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专利摘要

本发明属于微机电技术领域,公开了用于微制造的一种单层薄膜的杨氏模量的在线测试结构、和一种多层薄膜残余应力和杨氏模量的在线测试结构及在线提取方法。
单层薄膜的杨氏模量测试结构由一组薄膜材料不同的横拉悬臂梁结构和接触电极组成。
横拉悬臂梁结构包括,由单层薄膜作为上电极和驱动电极作为下电极。
多层薄膜的杨氏模量和残余应力测试结构包括顶层金属电极,多层两端固支梁结构和底层电极。
一组测试结构的多层两端固支梁结构,两端固支梁通过加固锚区和衬底连接。
使用静电驱动测量各测试结构的吸合电压。
将接触电压和吸合电压送入提取程序计算,即可得各层薄膜的残余应力和杨氏模量。
本发明测试方法简单,且能满足工艺线在线测试的精度要求。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010984434.5
申请日
2020-09-18
公开日
2020-12-25
公开号
CN112129347A
主分类号
/B/B81/ 作业;运输
标准类别
微观结构技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

姚冠文 周再发 黄庆安 杜雨桐 徐步青 程思敏

申请人

东南大学

申请人地址

210000 江苏省南京市玄武区四牌楼2号

专利摘要

本发明属于微机电技术领域,公开了用于微制造的一种单层薄膜的杨氏模量的在线测试结构、和一种多层薄膜残余应力和杨氏模量的在线测试结构及在线提取方法。
单层薄膜的杨氏模量测试结构由一组薄膜材料不同的横拉悬臂梁结构和接触电极组成。
横拉悬臂梁结构包括,由单层薄膜作为上电极和驱动电极作为下电极。
多层薄膜的杨氏模量和残余应力测试结构包括顶层金属电极,多层两端固支梁结构和底层电极。
一组测试结构的多层两端固支梁结构,两端固支梁通过加固锚区和衬底连接。
使用静电驱动测量各测试结构的吸合电压。
将接触电压和吸合电压送入提取程序计算,即可得各层薄膜的残余应力和杨氏模量。
本发明测试方法简单,且能满足工艺线在线测试的精度要求。

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