本发明涉及一种基于光纤的剪切力探测装置,包括衬底层,所述衬底层的上方设置有第一贵金属微纳结构阵列,所述第一贵金属微纳结构阵列的上方设置有透明弹性层,所述透明弹性层的上方设置有第二贵金属微纳结构阵列,所述第二贵金属微纳结构阵列的上方设置有纤芯;该基于光纤的剪切力探测装置,能够将对待测物体的剪切力转换为光学信号,通过检测纤芯内的透射系数的变化,从而判断耦合强度的变化,判断待测物体受到的剪切力,实现剪切力的检测,该基于光纤的剪切力探测装置,具有结构简单、抗干扰能力强,灵敏度高、精确度高的优点。
杨雯 李佳保 杨培志 马春阳 彭柳军
云南师范大学
650500 云南省昆明市呈贡区雨花片区1号
本发明涉及一种基于光纤的剪切力探测装置,包括衬底层,所述衬底层的上方设置有第一贵金属微纳结构阵列,所述第一贵金属微纳结构阵列的上方设置有透明弹性层,所述透明弹性层的上方设置有第二贵金属微纳结构阵列,所述第二贵金属微纳结构阵列的上方设置有纤芯;该基于光纤的剪切力探测装置,能够将对待测物体的剪切力转换为光学信号,通过检测纤芯内的透射系数的变化,从而判断耦合强度的变化,判断待测物体受到的剪切力,实现剪切力的检测,该基于光纤的剪切力探测装置,具有结构简单、抗干扰能力强,灵敏度高、精确度高的优点。