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专利摘要

本发明涉及一种单晶金刚石与衬底无损耗快速分离方法,包括步骤:S1、选取表面为(100)晶面的单晶金刚石作为衬底;S2、在所述衬底的表层中形成表面为(100)晶面的非金刚石层;S3、刻蚀所述非金刚石层和所述衬底,形成若干表面为(111)晶面的凹槽;S4、在所述非金刚石层的(100)晶面上选择性外延生长金刚石,形成外延层;S5、利用电化学腐蚀方法将所述凹槽之间的所述非金刚石层电解刻蚀掉,使所述外延层与所述衬底分离。
该分离方法在金刚石衬底上预先刻蚀(111)晶面的凹槽,然后进行(100)晶面选择性外延,之后利用电化学腐蚀方法刻蚀掉相邻凹槽间的非金刚石层,实现分离衬底与外延层的目的,由于腐蚀深度小,大幅度提升了分离速度。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010653578.2
申请日
2020-07-08
公开日
2020-11-27
公开号
CN111996581A
主分类号
/C/C25/ 化学;冶金
标准类别
电解或电泳工艺;其所用设备
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

任泽阳 邢雨菲 张金风 张进成 何琦 苏凯 郝跃

申请人

西安电子科技大学

申请人地址

710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

专利摘要

本发明涉及一种单晶金刚石与衬底无损耗快速分离方法,包括步骤:S1、选取表面为(100)晶面的单晶金刚石作为衬底;S2、在所述衬底的表层中形成表面为(100)晶面的非金刚石层;S3、刻蚀所述非金刚石层和所述衬底,形成若干表面为(111)晶面的凹槽;S4、在所述非金刚石层的(100)晶面上选择性外延生长金刚石,形成外延层;S5、利用电化学腐蚀方法将所述凹槽之间的所述非金刚石层电解刻蚀掉,使所述外延层与所述衬底分离。
该分离方法在金刚石衬底上预先刻蚀(111)晶面的凹槽,然后进行(100)晶面选择性外延,之后利用电化学腐蚀方法刻蚀掉相邻凹槽间的非金刚石层,实现分离衬底与外延层的目的,由于腐蚀深度小,大幅度提升了分离速度。

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