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专利摘要

本发明涉及用于分析物量化的多重微阵列和方法。
尤其是,本发明涉及改进的方法,该方法根据参考标准曲线对测试样本中目标分析物浓度进行标准化,该参考标准曲线是从已知浓度目标分析物的经验证、核准和公认的参考标准中导出的。
本发明还涉及用于对确定正常化标准和控制的置信度进行同时测量的方法和检查。

专利状态

基础信息

专利号
CN201080060201.0
申请日
2010-10-29
公开日
2016-02-10
公开号
CN102713620B
主分类号
/C/C40/ 化学;冶金
标准类别
组合技术
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
授权

发明人

彼得·李 珍妮弗·汉森 凯特·史密斯

申请人

SQI 诊断系统有限责任公司

申请人地址

加拿大安大略省

专利摘要

本发明涉及用于分析物量化的多重微阵列和方法。
尤其是,本发明涉及改进的方法,该方法根据参考标准曲线对测试样本中目标分析物浓度进行标准化,该参考标准曲线是从已知浓度目标分析物的经验证、核准和公认的参考标准中导出的。
本发明还涉及用于对确定正常化标准和控制的置信度进行同时测量的方法和检查。

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