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专利摘要

本发明公开了一种基于皮革表面缺陷检测的LED自由曲面阵列,属于机器视觉检测LED照明领域。
通过构建一个空间LED自由曲面上的阵列离轴照度分布理论模型;引入基于模拟退火的粒子群优化算法和设定约束条件,构建均匀度评价函数,优化模拟获得可实现单侧离轴均匀照明的LED自由曲面阵列的最优解。
所述的LED阵列能够实现均匀照明,照度均匀度达到91.86%。
本发明的LED自由曲面阵列能够用于单色纹理皮革印制过程的检测,能够凸显并易于直接在线检测,达到了通过单侧离轴均匀照明法检测印染缺陷的目的。
本发明的LED自由曲面阵列照明可以准确、快速的检测皮革表面的暗纹。

专利状态

基础信息

专利号
CN201811114401.4
申请日
2018-09-25
公开日
2021-04-30
公开号
CN109345521B
主分类号
/F/F21/ 机械工程;照明;加热;武器;爆破
标准类别
照明
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

高淑梅 王德宇 钱维莹 曹建军 杨国锋

申请人

江南大学

申请人地址

214000 江苏省无锡市蠡湖大道1800号

专利摘要

本发明公开了一种基于皮革表面缺陷检测的LED自由曲面阵列,属于机器视觉检测LED照明领域。
通过构建一个空间LED自由曲面上的阵列离轴照度分布理论模型;引入基于模拟退火的粒子群优化算法和设定约束条件,构建均匀度评价函数,优化模拟获得可实现单侧离轴均匀照明的LED自由曲面阵列的最优解。
所述的LED阵列能够实现均匀照明,照度均匀度达到91.86%。
本发明的LED自由曲面阵列能够用于单色纹理皮革印制过程的检测,能够凸显并易于直接在线检测,达到了通过单侧离轴均匀照明法检测印染缺陷的目的。
本发明的LED自由曲面阵列照明可以准确、快速的检测皮革表面的暗纹。

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