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专利摘要

一种可分析O型圈线径对高压密封性能影响的测试装置,包括缸体,缸体的侧壁连通有进气管和出气管,承接盖、压紧垫、中心锥形盖、大锥形盖通过螺纹压盖安装于缸体顶部,环绕中心锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干设置有小线径O型圈的条环形密封槽一,环绕大锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干条设置有大线径O型圈的环形密封槽二。
本发明利用中心锥形盖侧面凸起和大锥形盖的配合,以及大锥形盖和缸体的配合,分别实现小线径和大线径橡胶O型圈的线径控制。
并通过外、内三角垫的交替使用,以及缸盖密封三角垫、环形垫组合密封结构,保证小线径和大线径O型圈测试过程中泄漏通道的唯一性,实现不同密封介质压力下泄漏率与O型圈线径关系的分析。

专利状态

基础信息

专利号
CN202011183546.7
申请日
2020-10-29
公开日
2021-07-27
公开号
CN112304595B
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

郭飞 黄毅杰 项冲 张兆想 程甘霖 谭磊 贾晓红 王玉明

申请人

清华大学

申请人地址

100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

专利摘要

一种可分析O型圈线径对高压密封性能影响的测试装置,包括缸体,缸体的侧壁连通有进气管和出气管,承接盖、压紧垫、中心锥形盖、大锥形盖通过螺纹压盖安装于缸体顶部,环绕中心锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干设置有小线径O型圈的条环形密封槽一,环绕大锥形盖的外壁开有位于不同高度的若干条设置有大线径O型圈的环形密封槽二。
本发明利用中心锥形盖侧面凸起和大锥形盖的配合,以及大锥形盖和缸体的配合,分别实现小线径和大线径橡胶O型圈的线径控制。
并通过外、内三角垫的交替使用,以及缸盖密封三角垫、环形垫组合密封结构,保证小线径和大线径O型圈测试过程中泄漏通道的唯一性,实现不同密封介质压力下泄漏率与O型圈线径关系的分析。

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