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专利摘要

本发明公开了一种等离子体共振光纤热线风速计、检测系统及方法,所述系统包括光源、光纤耦合器、起偏器、偏振控制器、等离子体共振光纤热线风速计、风筒和探测仪器,所述光源、光纤耦合器、起偏器、偏振控制器、风速计和探测仪器依次连接,所述风速计置于风筒中;所述光源包括泵浦光源和宽带光源;所述风速计包括刻有倾斜光纤光栅的光纤,所述光纤包层外表面镀有纳米量级的金属膜,所述金属膜外表面涂覆有几百纳米厚的光热材料,所述倾斜光纤光栅后向耦合的包层模有效折射率可覆盖0.9‑1.45RIU。
本发明利用倾斜光纤光栅和光热材料的独特优势,在不破坏光纤结构的前提下实现高效的光热转换,从而实现风速的高灵敏测量。

专利状态

基础信息

专利号
CN201910432144.7
申请日
2019-05-23
公开日
2019-08-16
公开号
CN110133320A
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

郭团 李凯伟 刘瑜珂

申请人

暨南大学

申请人地址

510632 广东省广州市天河区黄埔大道西601号

专利摘要

本发明公开了一种等离子体共振光纤热线风速计、检测系统及方法,所述系统包括光源、光纤耦合器、起偏器、偏振控制器、等离子体共振光纤热线风速计、风筒和探测仪器,所述光源、光纤耦合器、起偏器、偏振控制器、风速计和探测仪器依次连接,所述风速计置于风筒中;所述光源包括泵浦光源和宽带光源;所述风速计包括刻有倾斜光纤光栅的光纤,所述光纤包层外表面镀有纳米量级的金属膜,所述金属膜外表面涂覆有几百纳米厚的光热材料,所述倾斜光纤光栅后向耦合的包层模有效折射率可覆盖0.9‑1.45RIU。
本发明利用倾斜光纤光栅和光热材料的独特优势,在不破坏光纤结构的前提下实现高效的光热转换,从而实现风速的高灵敏测量。

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