目录

专利摘要

本发明公开了应用于AFM‑SEM混合显微镜系统的PRC及其制造方法。
本发明一种应用于AFM‑SEM混合显微镜系统的PRC,包括:pcb基板、设置在所述pcb基板上的衬底、设置在所述衬底上的固定值电阻器、设置在所述衬底上的压电电阻器、焊盘和固定结构;所述压电电阻器包括悬臂梁和设置在所述悬臂梁前端的探针;所述固定值电阻器和所述压电电阻器互相平行;所述pcb基板远离所述衬底的一侧、两个侧边和靠近所述衬底的一侧设有第一导电涂层。
本发明的有益效果:通过导电涂层尽可能消除落在PRC上的电荷,降低SEM电子束对PRC造成的干扰,使得基于PRC的AFM可以兼容SEM。

专利状态

基础信息

专利号
CN201911274839.3
申请日
2019-12-12
公开日
2021-07-13
公开号
CN111024988B
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

陈科纶 王纯配 陈俊 孙钰 汝长海

申请人

江苏集萃微纳自动化系统与装备技术研究所有限公司

申请人地址

215100 江苏省苏州市相城区高铁新城环秀湖大厦(原怡城园艺)南三、四楼

专利摘要

本发明公开了应用于AFM‑SEM混合显微镜系统的PRC及其制造方法。
本发明一种应用于AFM‑SEM混合显微镜系统的PRC,包括:pcb基板、设置在所述pcb基板上的衬底、设置在所述衬底上的固定值电阻器、设置在所述衬底上的压电电阻器、焊盘和固定结构;所述压电电阻器包括悬臂梁和设置在所述悬臂梁前端的探针;所述固定值电阻器和所述压电电阻器互相平行;所述pcb基板远离所述衬底的一侧、两个侧边和靠近所述衬底的一侧设有第一导电涂层。
本发明的有益效果:通过导电涂层尽可能消除落在PRC上的电荷,降低SEM电子束对PRC造成的干扰,使得基于PRC的AFM可以兼容SEM。

相似专利技术

无相关信息