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专利摘要

本发明公开了一种基于调制自由电子的扫描近场光学显微镜,属于扫描近场光学显微镜。
该显微镜包括电子枪、扫描近场光学显微镜,电子枪产生谐波形式的近场信号,该近场信号在样品处激发样品上的各阶近场信号和远场信号;探测器探测到被探针散射的各阶近场信号和远场信号,通过分离远场信号和近场信号,得到最终的扫描结果。
本发明利用调制自由电子代替原有的外部光源,通过对自由电子进行调制,取代原有针尖振动所起的调制作用,提升信号转化效率、信噪比,同时因为不再需要针尖进行抖动,避免了因其抖动可能产生的近场信号和成像的不良影响,最终达到增强近场信号强度和近场成像质量的效果,具有深远的实用意义。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010159163.X
申请日
2020-03-09
公开日
2020-06-26
公开号
CN111337711A
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
审查中-实审

发明人

胡旻 张天宇 张倬铖 王玥莹 张晓秋艳 许星星 吴振华 刘盛纲

申请人

电子科技大学

申请人地址

611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

专利摘要

本发明公开了一种基于调制自由电子的扫描近场光学显微镜,属于扫描近场光学显微镜。
该显微镜包括电子枪、扫描近场光学显微镜,电子枪产生谐波形式的近场信号,该近场信号在样品处激发样品上的各阶近场信号和远场信号;探测器探测到被探针散射的各阶近场信号和远场信号,通过分离远场信号和近场信号,得到最终的扫描结果。
本发明利用调制自由电子代替原有的外部光源,通过对自由电子进行调制,取代原有针尖振动所起的调制作用,提升信号转化效率、信噪比,同时因为不再需要针尖进行抖动,避免了因其抖动可能产生的近场信号和成像的不良影响,最终达到增强近场信号强度和近场成像质量的效果,具有深远的实用意义。

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