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专利摘要

本发明属于材料中微观组织分析定量表征检测领域,涉及一种材料中第二相颗粒的定量统计表征方法,所述方法包括:第二相颗粒尺寸的预估步骤;所需表征的第二相颗粒的图像采集步骤:根据预估出的所需表征的第二相颗粒尺寸选择图像采集设备,并利用所述图像采集设备对材料样品进行内部微观组织形貌图像采集;统计分析步骤:对所述图像采集步骤采集到的图像进行定量统计分析,得到所需表征的第二相颗粒的定量统计表征结果。
本发明方法对任何类型的第二相颗粒均适用,具有普适性,可实现第二相颗粒数量、最大尺寸、平均尺寸及第二相颗粒面积的定量统计测量,为定量建立析出相特征参数与力学性能之间的关系以及微观结构转变机制提供依据。

专利状态

基础信息

专利号
CN202010114195.8
申请日
2020-02-24
公开日
2021-07-02
公开号
CN111289542B
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

张淑兰 王昌 张超 王辉 张晓丹

申请人

钢铁研究总院

申请人地址

100081 北京市海淀区学院南路76号

专利摘要

本发明属于材料中微观组织分析定量表征检测领域,涉及一种材料中第二相颗粒的定量统计表征方法,所述方法包括:第二相颗粒尺寸的预估步骤;所需表征的第二相颗粒的图像采集步骤:根据预估出的所需表征的第二相颗粒尺寸选择图像采集设备,并利用所述图像采集设备对材料样品进行内部微观组织形貌图像采集;统计分析步骤:对所述图像采集步骤采集到的图像进行定量统计分析,得到所需表征的第二相颗粒的定量统计表征结果。
本发明方法对任何类型的第二相颗粒均适用,具有普适性,可实现第二相颗粒数量、最大尺寸、平均尺寸及第二相颗粒面积的定量统计测量,为定量建立析出相特征参数与力学性能之间的关系以及微观结构转变机制提供依据。

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