目录

专利摘要

一种成像系统包括探测器模块。
探测器模块包括多个直接转换光子计数探测器像素的块以及与多个直接转换光子计数探测器像素的块相连接的对应的电子器件,电子器件具有用于高能量分辨率成像模式和高X射线通量成像模式两者的硬件。
一种方法包括:识别用于选定的成像协议的扫描模式,其中,扫描模式包括较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式中的一种;基于所识别的扫描模式来配置探测器模块,探测器模块能被配置用于较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式两者;利用被配置用于选定的成像协议的模式的探测器模块来执行扫描;并且处理来自扫描的扫描数据,生成体积图像数据。

专利状态

基础信息

专利号
CN201680041152.3
申请日
2016-07-04
公开日
2021-07-27
公开号
CN107850682B
主分类号
/G/G01/ 物理
标准类别
测量;测试
批准发布部门
国家知识产权局
专利状态
有效专利

发明人

I·M·布勒维 R·斯特德曼布克 C·赫尔曼

申请人

皇家飞利浦有限公司

申请人地址

荷兰艾恩德霍芬

专利摘要

一种成像系统包括探测器模块。
探测器模块包括多个直接转换光子计数探测器像素的块以及与多个直接转换光子计数探测器像素的块相连接的对应的电子器件,电子器件具有用于高能量分辨率成像模式和高X射线通量成像模式两者的硬件。
一种方法包括:识别用于选定的成像协议的扫描模式,其中,扫描模式包括较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式中的一种;基于所识别的扫描模式来配置探测器模块,探测器模块能被配置用于较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式两者;利用被配置用于选定的成像协议的模式的探测器模块来执行扫描;并且处理来自扫描的扫描数据,生成体积图像数据。

相似专利技术

无相关信息