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一种快恢复二极管及其制作方法

申请号: CN201510674227.9
申请人: 国网智能电网研究院; 国家电网公司
申请日期: 2015年10月16日

摘要文本

本发明提供一种快恢复二极管及其制作方法,所述二极管包括含有有源区(5)和具有间隔的终端保护环(7)的衬底N‑层(2),所述衬底N‑层(2)的正面和背面分别有氧化层(3)和缓冲层(4),再于所述氧化层(3)敷设有BPSG层(8),所述有源区(5)设有金属电极(9),所述有源区(5)周边设有电阻区(6);所述制作方法包括:1)初始氧化;2)形成背面缓冲层;3)形成离子注入窗口;4)PN结形成;5)BPSG淀积;6)引线孔形成;7)金属电极淀积;8)形成表面钝化层;本发明方法制备的快恢复二极管,改善了反向恢复过程中电流的不均匀性,避免电流集边现象,缓解局部动态雪崩增强,提高了其抗动态雪崩能力。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种快恢复二极管及其制作方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201510674227.9
申请日 2015年10月16日
公告号 CN106601826B
公开日 2024年3月15日
IPC主分类号 H01L29/868
权利人 国网智能电网研究院; 国家电网公司
发明人 曹功勋; 刘钺杨; 吴迪; 何延强; 董少华; 金锐
地址 北京市昌平区小汤山镇大东流村路270号(未来科技城); 北京市西城区西长安街86号

专利主权项内容

1.一种快恢复二极管,所述二极管包括含有有源区(5)和具有间隔的终端保护环(7)的衬底N-层(2),所述衬底N-层(2)的正面和背面分别有氧化层(3)和缓冲层(4),其特征在于,再于所述氧化层(3)的表面敷设有BPSG层(8),所述有源区(5)设有金属电极(9),所述有源区(5)周边设有电阻区(6);所述电阻区离子注入窗口暴露部分的电阻区,且以有源区离子注入窗口为中心呈对称分布;所述电阻区离子注入窗口的形状为同心矩形环、同心圆环、方孔、圆孔或菱形孔;所述电阻区(6)离子注入窗口中的BPSG形成多道环形结构围绕所述金属电极(9);所述氧化层(3)的厚度为8000-20000 Å,所述背面缓冲层(4)的厚度为1-120μm;所述BPSG层(8)的厚度为10000-30000 Å;所述有源区(5)和终端保护环(7)的离子掺杂浓度为1e15-1e18,所述电阻区(6)的离子掺杂浓度为1e14-1e17。