直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置及方法
摘要文本
本发明涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置及方法，该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本发明的优点在于样品无需前处理，适用于固体和液体样品，具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。
申请人信息
- 申请人:钢研纳克检测技术股份有限公司
- 申请人地址:100081 北京市海淀区高粱桥斜街13号
- 发明人: 钢研纳克检测技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯含量的分析装置及方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811256793.8 |
| 申请日 | 2018年10月26日 |
| 公告号 | CN109239117B |
| 公开日 | 2024年1月30日 |
| IPC主分类号 | G01N23/223 |
| 权利人 | 钢研纳克检测技术股份有限公司 |
| 发明人 | 廖学亮; 程大伟; 刘明博; 胡学强; 杨博赞; 倪子月; 岳元博; 周超; 宋春苗; 陈吉文 |
| 地址 | 北京市海淀区高粱桥斜街13号 |
专利主权项内容
1.一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析方法，使用直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置，所述装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；其中，所述X射线荧光分析仪单元(200)包括X射线光管(201)、样品测试腔(203)、硅漂移探测器(204)、滤光片(205)、准直器(206)；所述充气单元(100)包括气路连接管(101)和不同气源的多个气瓶(106)；气瓶(106)通过气路连接管(101)与样品测试腔(203)连通；气路连接管(101)上设有多个气体流量传感器(104)和电磁阀(105)，所述气体流量传感器(104)和电磁阀(105)由控制单元中的计算机(211)控制；所述样品杯(300)包括可拆卸的固定的杯体(301)、下杯口卡套(302)、上杯口卡套(303)、位于杯体(301)上下口的两片薄膜(304)；其特征在于：所述方法包括如下步骤：1)样品制备将待测固体或液体样品置于样品杯(300)中；2)样品测试腔(203)充气将装有样品的样品杯(300)放入样品测试腔(203)以后，开始测试，由控制单元控制、通过气路连接管(101)向样品测试腔(203)中充气至充满填充气体，以减少X射线的衰减；充气过程中控制单元实时测试光路中的氩元素峰，氩气的峰高降到与谱图背景平齐时，气体充满样品测试腔(203)；所述气体为高纯度气体；3)样品激发和信号检测由X射线光管(201)产生的X射线光经过滤光片(205)后通过准直器(206)照射到样品杯(300)，进而照射到样品上，样品中的铝、硅、磷、硫、氯元素产生特征X射线荧光，被硅漂移探测器(204)接收转化为数字信号，使用硅漂移探测器(204)对铝、硅、磷、硫、氯元素产生的特征X射线荧光进行检测；4)数据处理将采集到的数据输入控制单元，进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。 更多数据：搜索马克数据网来源：