用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置
摘要文本
一种用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置,包括:二维多发多收收发阵列面板,其包括至少一个子阵列,其中每个阵列包括线性排列的多个发射天线和线性排列的多个接收天线,所述线性排列的多个发射天线和所述线性排列的多个接收天线相交;信号处理装置;显示装置;以及测距雷达。在每个子阵列中,每个发射天线和相应一个接收天线的连线的中点被看作这对发射天线‑接收天线的虚拟的等效相位中心,多个发射天线和多个接收天线被设置为产生等效相位中心网;相邻的发射天线或相邻的接收天线之间的距离为特定频率的电磁波的一个波长,在所产生的等效相位中心网中,相邻的等效相位中心之间的距离在特定频率的电磁波的波长的30%至70%的范围内。 微信公众号马克 数据网
申请人信息
- 申请人:清华大学; 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区清华园1号
- 发明人: 清华大学; 同方威视技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811654199.4 |
| 申请日 | 2018年12月29日 |
| 公告号 | CN109828241B |
| 公开日 | 2024年1月26日 |
| IPC主分类号 | G01S7/282 |
| 权利人 | 清华大学; 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人 | 赵自然; 游燕; 李元景; 马旭明; 武剑 |
| 地址 | 北京市海淀区双清路30号清华大学; 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
专利主权项内容
1.一种用于主动式微波毫米波安检设备的电磁成像装置,包括:二维多发多收收发阵列面板,其包括至少一个二维多发多收收发子阵列,其中每个二维多发多收收发子阵列包括线性排列的多个发射天线和线性排列的多个接收天线,所述线性排列的多个发射天线和所述线性排列的多个接收天线相交,其中所述多个发射天线被构造为发射具有特定频率的电磁波,且所述多个接收天线被构造为接收从被检对象反射回的电磁波;信号处理装置,其被构造为基于所述多个接收天线接收的电磁波重建被检对象的图像;显示装置,其用于显示被检对象的图像;以及测距雷达,其设置于所述二维多发多收收发阵列面板上且用于精确地测量被检对象和电磁成像装置之间的距离,其中,在每个子阵列中,所述多个发射天线中的每个发射天线和所述多个接收天线中的相应一个接收天线的连线的中点被看作这一对发射天线-接收天线的虚拟的等效相位中心,所述多个发射天线和所述多个接收天线被设置为产生等效相位中心网;多个发射天线中的相邻的发射天线或多个接收天线中的相邻的接收天线之间的距离为特定频率的电磁波的一个波长,在所产生的等效相位中心网中,相邻的等效相位中心之间的距离在特定频率的电磁波的波长的30%至70%的范围内。