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空间直线朝向测量方法、装置、计算机设备和存储介质
摘要文本
本申请涉及一种空间直线朝向测量方法、装置、计算机设备和存储介质,通过获取原始图像,提取原始图像中的直线,计算直线置信度,将各条直线进行非线性变换得到各条直线在变换图像平面中的曲线轨迹,根据直线置信度对各条曲线轨迹经过的像素点的像素值进行更新得到更新后的变换图像,对更新后的变换图像进行卷积运算得到卷积图像,从卷积图像中筛选出像素值满足交点条件的像素点的卷积图像坐标,作为目标卷积坐标,根据卷积图像坐标与原始图像的原始图像坐标的对应关系,计算得到目标卷积坐标对应的原始图像坐标,将目标卷积坐标对应的原始图像坐标作为消失点坐标,根据各个消失点坐标确定与各个消失点对应的直线的空间朝向,实现自动化计算。 马-克-数据
申请人信息
- 申请人:中国科学院自动化研究所; 中国科学院自动化研究所南京人工智能芯片创新研究院
- 申请人地址:100089 北京市海淀区中关村东路95号
- 发明人: 中国科学院自动化研究所; 中国科学院自动化研究所南京人工智能芯片创新研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 空间直线朝向测量方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811244687.8 |
| 申请日 | 2018年10月24日 |
| 公告号 | CN111179337B |
| 公开日 | 2024年2月2日 |
| IPC主分类号 | G06F17/15 |
| 权利人 | 中国科学院自动化研究所; 中国科学院自动化研究所南京人工智能芯片创新研究院 |
| 发明人 | 刘希龙; 顾庆毅; 陈梦娟; 秦文翔 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村东路95号; 江苏省南京市江宁区创研路266号3号楼3层 |
专利主权项内容
1.一种空间直线朝向测量方法,包括:获取原始图像,提取所述原始图像中的直线,计算各直线置信度;将各条所述直线进行非线性变换,得到各条所述直线在变换图像平面中的曲线轨迹,根据所述直线置信度对各条所述曲线轨迹经过的像素点的像素值进行更新,得到更新后的变换图像,包括将各条曲线轨迹经过的像素点的像素值与直线置信度进行累加,得到各条曲线轨迹经过的像素点的累加值,根据各个像素点的累加值更新变换图像,得到更新后的变换图像;对所述更新后的变换图像进行卷积运算,得到卷积图像,从所述卷积图像中筛选出像素值满足交点条件的像素点的卷积图像坐标,作为目标卷积坐标;根据所述卷积图像坐标与所述原始图像的原始图像坐标之间的对应关系,计算得到所述目标卷积坐标对应的原始图像坐标,将所述目标卷积坐标对应的原始图像坐标作为消失点坐标,根据各个所述消失点坐标确定与各个所述消失点对应的直线的空间朝向。