光回波损耗的检定装置和检定方法
摘要文本
本发明提供一种光回波损耗的检定装置和检定方法，该检定装置包括耦合器(11)、隔离器(12)、可变光衰减器(13)和预设长度的光纤(14)；耦合器(11)包括干路端口(110)、第一支路端口(111)和第二支路端口(112)，第一支路端口(111)与隔离器(12)的输入端相连，隔离器(12)的输出端与可变光衰减器(13)的一端相连，可变光衰减器(13)的另一端与第二支路端口(112)通过预设长度的光纤(14)相连；第一支路和所述第二支路的分光比为1：N。本发明的光回波损耗的检定装置，结构简单，且容易基于光源和光功率计测得该检定装置的光回波损耗值，可模拟出适合光时域反射计测量的可变的光回波损耗值，校准光时域反射计的光回波损耗参数。
申请人信息
- 申请人:中国信息通信研究院
- 申请人地址:100191 北京市海淀区花园北路52号
- 发明人: 中国信息通信研究院
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 光回波损耗的检定装置和检定方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810953479.9 |
| 申请日 | 2018年8月21日 |
| 公告号 | CN109039442B |
| 公开日 | 2024年1月30日 |
| IPC主分类号 | H04B10/077 |
| 权利人 | 中国信息通信研究院 |
| 发明人 | 孙小强; 岳蕾; 傅栋博; 张颖艳 |
| 地址 | 北京市海淀区花园北路52号 |
专利主权项内容
1.一种光回波损耗的检定方法，其特征在于，所述方法包括；将来自被校设备(2)的待测入射光输入至光回波损耗的检定装置中的耦合器(11)的干路端口，并从所述耦合器(11)的干路端口接收所述待测入射光的返回光；基于所述待测入射光和所述返回光的功率得到被校设备的光回波损耗测量值；用所述检定装置具有量值溯源的光回波损耗R校准所述光回波损耗测量值；其中，所述光回波损耗的检定装置包括耦合器(11)、隔离器(12)、可变光衰减器(13)和预设长度的光纤(14)；所述耦合器(11)包括接收光输入的干路端口(110)、第一支路端口(111)和第二支路端口(112)，所述第一支路端口(111)与所述隔离器(12)的输入端相连，所述隔离器(12)的输出端与所述可变光衰减器(13)的一端相连，所述可变光衰减器(13)的另一端与所述第二支路端口(112)通过预设长度的光纤(14)相连；所述第一支路和所述第二支路的分光比为1：N；令所述第一支路的插入损耗为IL，所述隔离器的插入损耗为L，所述可变光衰减器的衰减为L，所述第二支路的插入损耗为IL，所述预设长度的光纤链路衰减为L；则所述检定装置的光回波损耗R＝IL+L+L-IL-L；通过调节L的数值得到不同的R值。1sa2f1sa2fa