一种用于检测高频超声成像仪器轴向分辨力的成套试件
摘要文本
本发明涉及一种用于检测高频超声成像仪器轴向分辨力的成套试件，其包括：第一塑料垫块(1)、第二塑料垫块(14)、低衰减塑料薄片(2)、第一塑料薄膜(3)、第二塑料薄膜(15)、基板(5)、第一固定装置(7)、第二固定装置(16)、第一试件支柱(8)、第二试件支柱(17)；该基板(5)的两端固定安装第一试件支柱(8)和第二试件支柱(17)，且二者位于基板(5)的一侧；其另一侧上对称地放置第一塑料薄膜(3)和第二塑料薄膜(15)，低衰减塑料薄片(2)放置在二者之上；低衰减塑料薄片(2)上放置第一塑料垫块(1)和第二塑料垫块(14)，第一固定装置(7)、第二固定装置(16)位于基板的一侧，该侧开有沟槽状结构(6)。
申请人信息
- 申请人:中国科学院声学研究所
- 申请人地址:100190 北京市海淀区北四环西路21号
- 发明人: 中国科学院声学研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于检测高频超声成像仪器轴向分辨力的成套试件 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810306869.7 |
| 申请日 | 2018年4月8日 |
| 公告号 | CN110346114B |
| 公开日 | 2024年3月26日 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 中国科学院声学研究所 |
| 发明人 | 牛凤岐; 朱承纲; 程洋; 张迪 |
| 地址 | 北京市海淀区北四环西路21号 |
专利主权项内容
1.一种用于检测高频超声成像仪器轴向分辨力的成套试件，其特征在于，其包括：第一塑料垫块(1)、第二塑料垫块(14)、低衰减塑料薄片(2)、第一塑料薄膜(3)、第二塑料薄膜(15)、基板(5)、第一固定装置(7)、第二固定装置(16)、第一试件支柱(8)、第二试件支柱(17)；所述基板(5)的两端固定安装第一试件支柱(8)和第二试件支柱(17)，且二者位于基板(5)的一侧，用于支撑基板(5)；与基板(5)的一侧相对的另一侧上对称地放置第一塑料薄膜(3)和第二塑料薄膜(15)，低衰减塑料薄片(2)放置在二者之上；低衰减塑料薄片(2)上对称地放置第一塑料垫块(1)和第二塑料垫块(14)，第一固定装置(7)、第二固定装置(16)与第一试件支柱(8)、第二试件支柱(17)位于同侧，第一固定装置(7)将第一塑料垫块(1)、低衰减塑料薄片(2)、第一塑料薄膜(3)、基板(5)紧固为一体，第二固定装置(16)将第二塑料垫块(14)、低衰减塑料薄片(2)、第二塑料薄膜(15)、基板(5)紧固为一体；第一固定装置(7)与第二固定装置(16)之间，基板(5)上开有沟槽状结构(6)；第一塑料薄膜(3)与第二塑料薄膜(15)之间留有测量间隙(4)，该测量间隙(4)取决于由第一塑料薄膜(3)与第二塑料薄膜(15)的厚度；测量间隙(4)内填充水媒质；所述水媒质为蒸馏水或去离子水；第一塑料薄膜(3)的厚度和第二塑料薄膜(15)的厚度、测量间隙(4)三者相同，均为20μm至900μm；所述基板(5)上分布若干试件，且每个试件的测量间隙(4)为相同或不相同。 数据由马 克 团 队整理