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测试方法、系统、电子设备和计算机可读介质

申请号: CN201811351246.8
申请人: 北京京东尚科信息技术有限公司; 北京京东世纪贸易有限公司
申请日期: 2018年11月13日

摘要文本

本公开提供了一种测试方法包括,获取参数信息,所述参数信息用于描述至少一个参数的测试数据的特征,解析所述参数信息,用于获取所述至少一个参数的测试数据的特征,基于所述至少一个参数的测试数据的特征,确定测试数据,以及基于所述测试数据,测试待测试程序。本公开的另一方面提供了一种测试系统、一种电子设备以及一种计算机可读介质。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 测试方法、系统、电子设备和计算机可读介质
专利类型 发明授权
申请号 CN201811351246.8
申请日 2018年11月13日
公告号 CN111176973B
公开日 2024年2月2日
IPC主分类号 G06F11/36
权利人 北京京东尚科信息技术有限公司; 北京京东世纪贸易有限公司
发明人 黄栎桥
地址 北京市海淀区知春路76号8层; 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层201室

专利主权项内容

1.一种测试方法,包括:获取参数信息,所述参数信息用于描述至少一个参数的测试数据的特征;解析所述参数信息,用于获取所述至少一个参数的测试数据的特征;基于所述至少一个参数的测试数据的特征,确定测试数据;基于所述测试数据,测试待测试程序;其中,所述方法还包括:识别测试脚本中包含参数的方法,以确定需要编写参数信息的方法以及其中的参数;所述识别测试脚本中包含参数的方法包括:扫描所述测试脚本;在所述测试脚本中存在特定标识,以及已存在与所述测试脚本相对应的参数文件的情况下,查找脚本中带注解的测试方法;在所述带注解的测试方法在参数文件中没有被解析过的情况下,解析所述带注解的测试方法,并在参数文件中生成带注解的测试方法的参数文件,其中,所述特定标识包括对存在动态参数的测试方法进行的标记。