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检查系统及成像方法
摘要文本
本公开涉及一种检查系统及成像方法。检查系统包括：加速器(10)，用于发射射线束(F)；探测器(20)，用于对所述加速器(10)发出的射线束(F)进行接收；和成像装置(30)，与所述探测器(20)信号连接，用于获得被检物体在所述加速器(10)的靶点(T)的高度以上的扫描图像。本公开实施例能够提高被检物体的扫描图像的成像质量。 微信公众号马克 数据网
申请人信息
- 申请人:同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 发明人: 同方威视技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 检查系统及成像方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811581322.4 |
| 申请日 | 2018年12月24日 |
| 公告号 | CN109407162B |
| 公开日 | 2024年4月2日 |
| IPC主分类号 | G01V5/22 |
| 权利人 | 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人 | 许艳伟; 孙尚民; 喻卫丰; 胡煜; 宗春光 |
| 地址 | 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
专利主权项内容
1.一种检查系统，包括：加速器(10)，用于发射射线束(F)；探测器(20)，用于对所述加速器(10)发出的射线束(F)进行接收；成像装置(30)，与所述探测器(20)信号连接，用于获得被检物体在所述加速器(10)的靶点(T)的高度以上的扫描图像；和第一高度调整装置(50)，与所述加速器(10)连接，用于调整所述加速器(10)的靶点(T)的高度；其中，所述被检物体包括通过载具(91)承载的待检对象(92)，所述检查系统还包括：高度识别装置(60)，用于识别所述载具(91)的底盘高度或待检对象(92)的最低高度，以便所述第一高度调整装置(50)根据所述高度识别装置(60)的识别结果调整所述加速器(10)的靶点(T)的高度。