← 返回列表
包括标准单元的半导体器件
摘要文本
半导体器件包括多个标准单元。多个标准单元包括布置在第一行中的沿着行方向延伸的第一组标准单元和布置在第二行中的沿着行方向延伸的第二组标准单元。第一组标准单元和第二组标准单元布置在列方向上。第一组标准单元在列方向上的单元高度与第二组标准单元在列方向上的单元高度不同。本发明实施例涉及包括多个标准单元的半导体器件和标准单元布局技术。
申请人信息
- 申请人:台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址:中国台湾新竹
- 发明人: 台湾积体电路制造股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 包括标准单元的半导体器件 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810909592.7 |
| 申请日 | 2018年8月10日 |
| 公告号 | CN109786369B |
| 公开日 | 2024年1月9日 |
| IPC主分类号 | H01L27/02 |
| 权利人 | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 发明人 | 郭大鹏; 鲁立忠; 田丽钧 |
| 地址 | 中国台湾新竹 |
专利主权项内容
（来自 马克数据网） 。1.一种包括多个标准单元的半导体器件，其中：所述多个标准单元包括布置在第一行中的沿着行方向延伸的第一组标准单元和布置在第二行中的沿着所述行方向延伸的第二组标准单元，其中，多个所述第一行和多个所述第二行在列方向上布置，所述第一组标准单元和所述第二组标准单元布置在列方向上，以及所述第一行中的所述第一组标准单元在所述列方向上的第一单元高度与所述第二行中的所述第二组标准单元在所述列方向上的第二单元高度不同，其中，所述第一单元高度和所述第二单元高度基于所述多个标准单元的每个内沿着所述列方向布置的鳍结构的数量确定，其中，具有所述第一单元高度的所述第一组标准单元的所述第一行和具有所述第二单元高度的所述第二组标准单元的第二行在所述列方向上交替布置，其中，所述多个标准单元还包括设置为横跨相邻两行或多行的组合标准单元。