发光单元的测试方法
摘要文本
本发明提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元中的第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，包含以下步骤。分别设定第一发光二极管与第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算各个发光二极管的衰减程度。 （来自 马克数据网）
申请人信息
- 申请人:光远科技股份有限公司
- 申请人地址:中国台湾桃园市龟山区文化里华亚一路66号7楼
- 发明人: 光远科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 发光单元的测试方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811600535.7 |
| 申请日 | 2018年12月26日 |
| 公告号 | CN111369922B |
| 公开日 | 2024年1月9日 |
| IPC主分类号 | G09G3/00 |
| 权利人 | 光远科技股份有限公司 |
| 发明人 | 王遵义; 吴景钧; 杨嘉梁 |
| 地址 | 中国台湾桃园市龟山区文化里华亚一路66号7楼 |
专利主权项内容
1.一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，该发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，其特征在于，所述测试方法包含：设定所述第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第一发光二极管的光线；设定所述第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第二发光二极管的光线；提供所述第三发光二极管，接收关联于所述第一发光二极管的光线以及关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流K以及第二光感应电流K<<<提供所述第一发光二极管，接收关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流K<<取得第四光感应电流K，所述第四光感应电流关联于所述第三发光二极管，以及关联于所述第一发光二极管产生的光线；<取得第五光感应电流K，所述第五光感应电流关联于所述第三发光二极管，以及关联于所述第二发光二极管产生的光线；以及<取得第六光感应电流K，所述第六光感应电流关联于所述第一发光二极管，以及关联于所述第二发光二极管产生的光线；<其中，依据所述第一光感应电流K、所述第二光感应电流K、所述第三光感应电流K、所述第四光感应电流、所述第五光感应电流以及所述第六光感应电流，计算所述第一发光二极管的衰减程度α、所述第二发光二极管的衰减程度β以及所述第三发光二极管的衰减程度γ并表示为如下关系式：<<<γαK=K<<γβK=K<<αβK=K 。<<