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基于高介陶瓷的铁氧体半填充式SIW环行器及加工方法
摘要文本
本发明公开了一种基于高介陶瓷的铁氧体半填充式SIW环行器及加工方法,包括水平设置的基板,基板中心设有圆形通孔,通孔内设有铁氧体基片,铁氧体基片上方设有永磁体,铁氧体基片上表面设有一金属盖板,金属盖板上表面与基板上表面平齐,并与表面微带电路连通,所述永磁体下表面与金属盖板上表面固定连接;基板上表面沿圆形通孔的径向设有三个金属化槽孔,所述金属化槽孔分别位于三个电磁波信号传输通道中,且一端与金属盖板焊接;所述金属化槽孔、旋磁铁氧体基片和表面微带电路整体与电磁波阻抗匹配。本发明克服传统SIW器件在X波段及以下低频段无法实现小型化,且对于复杂介质腔体工艺实现成本高、难于实现等问题,工艺简单,精度高。
申请人信息
- 申请人:西南应用磁学研究所
- 申请人地址:621000 四川省绵阳市滨河北路西段268号
- 发明人: 西南应用磁学研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于高介陶瓷的铁氧体半填充式SIW环行器及加工方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811359935.3 |
| 申请日 | 2018年11月15日 |
| 公告号 | CN109301415B |
| 公开日 | 2024年1月16日 |
| IPC主分类号 | H01P1/387 |
| 权利人 | 西南应用磁学研究所 |
| 发明人 | 蒋运石; 闫欢; 韩晓川; 任士晶; 刘峰; 李红炬; 倪经; 周俊 |
| 地址 | 四川省绵阳市滨河北路西段268号 |
专利主权项内容
1.一种基于高介陶瓷的铁氧体半填充式SIW环行器,包括水平设置的基板,基板中心设有圆形通孔,所述圆形通孔内设有铁氧体基片,铁氧体基片上方设有永磁体,基板上表面设有由金属图形构成的表面微带电路、以及贯穿基板用以形成信号传输通道金属壁的数个金属化通孔,所述金属化通孔形成三个电磁波信号传输通道,基板三个边沿处各设有一输出端口,所述输出端口分别位于三个电磁波信号传输通道中,其特征在于:所述铁氧体基片下表面与基板下表面平齐,厚度小于基板厚度,铁氧体基片上表面设有一形状与之相同的金属盖板,所述金属盖板上表面与基板上表面平齐,并与表面微带电路连通,所述永磁体下表面与金属盖板上表面固定连接;所述基板采用陶瓷材料制成,上表面沿圆形通孔的径向设有三个金属化槽孔,所述金属化槽孔分别位于三个电磁波信号传输通道中,且一端与金属盖板焊接;所述金属化槽孔、旋磁铁氧体基片和表面微带电路整体与电磁波阻抗匹配,所述基板下表面设有匀磁板;铁氧体基片上表面通过金属盖板接地。