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一种基于Iodelay固件的AD采样自校准系统和方法

申请号: CN201811434898.8
申请人: 四川九洲电器集团有限责任公司
申请日期: 2018年11月28日

摘要文本

本发明涉及一种基于Iodelay固件的AD采样自校准系统和方法,属于数字信号处理技术领域。该系统包括差分转单端模块、时钟复位信号产生模块、Iodelay固件模块、延时参数自校准模块及Inserdes模块;同时公开了与此系统属于同一技术构思的方法。本发明解决了现有技术对数据和时钟的相位进行调整通过手动的方法来设置Iodelay的延时参数,需要不断的尝试才能找到最佳延时值,带有一定的盲目性导致耗时耗力且效果不好的问题。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种基于Iodelay固件的AD采样自校准系统和方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201811434898.8
申请日 2018年11月28日
公告号 CN109358819B
公开日 2024年2月20日
IPC主分类号 G06F3/06
权利人 四川九洲电器集团有限责任公司
发明人 毛园园; 段刘刚; 费炳超; 袁进威
地址 四川省绵阳市科创园区九华路6号

专利主权项内容

1.一种基于Iodelay固件的AD采样自校准系统,其特征在于,包括:差分转单端模块,用于将AD输出的差分数据转换成单端串行数据,以及用于将AD输出的差分时钟转换成单端时钟;时钟复位信号产生模块,用于根据所述单端时钟产生时钟复位信号同时送入Iodelay固件模块、延时参数自校准模块和Inserdes模块;Iodelay固件模块,用于根据所述时钟复位信号对所述单端串行数据进行延时处理得到延时后的串行数据;延时参数自校准模块,用于根据所述延时后的串行数据及所述时钟复位信号计算出最佳延时参数,并根据所述最佳延时参数对所述Iodelay固件模块进行延时参数校准;所述延时参数自校准模块包括数据边沿检测模块、自校准状态机、延时参数设置模块;所述数据边沿检测模块,用于检测所述延时后的串行数据的边沿以确定输入数据的变化;所述自校准状态机,用于根据所述延时后的串行数据计算出最佳延时参数;所述自校准状态机计算得到所述最佳延时参数包括:当所述数据边沿检测模块检测到输入的所述延时后的串行数据的边沿发生第一次变化时,所述自校准状态机保存第一延时参数;当所述数据边沿检测模块检测到输入的所述延时后的串行数据的边沿发生第二次变化时,所述自校准状态机保存第二延时参数;所述自校准状态机根据所述第一延时参数和第二延时参数计算得到最佳延时参数;所述延时参数设置模块,用于将所述最佳延时参数加载至所述Iodelay固件模块;Inserdes模块,用于将所述延时后的串行数据转换成并行数据后对外输出;系统上电后复位释放前,所述自校准状态机处于空闲状态;复位释放后,所述自校准状态机处于初始化状态使得延时参数的初始值为0;所述自校准状态机跳转至第一调整状态,所述延时参数进行自加操作,当所述数据边沿检测模块检测到输入的所述延时后的串行数据的第一个边沿时,所述自校准状态机跳转至第一记录状态同时所述延时参数停止进行自加操作,并将当前所述延时参数记为第一延时参数保存到第一寄存器中;所述自校准状态机跳转至第二调整状态,所述延时参数继续进行自加操作,当所述数据边沿检测模块检测到输入的所述延时后的串行数据的第二个边沿时,所述自校准状态机跳转至第二记录状态同时所述延时参数停止进行自加操作,并将当前所述延时参数记为第二延时参数保存到第二寄存器中;所述自校准状态机跳转至计算参数状态,根据所述第一寄存器中保存的第一延时参数和所述第二寄存器中保存的第二延时参数计算均值得到所述最佳延时参数,使得采样点位于输入数据的中间位置;所述自校准状态机跳转至设置参数状态,使得所述延时参数设置模块将所述最佳延时参数加载至所述Iodelay固件模块进行延时参数校准。