太赫兹测试样品装置
摘要文本
本发明提供一种太赫兹测试样品装置，涉及测试样品装置技术领域。太赫兹测试样品装置包括：第一半椭球罩，第一半椭球罩具有第一开口和第二开口，第一开口用于与太赫兹发射装置连接。第二半椭球罩，第二半椭球罩在长轴方向具有第三开口，在第三开口附近还具有第一孔洞和第二孔洞，第三开口与第二开口可拆卸连接，第二半椭球罩与第一半椭球罩的内表面均有镀金层。样品盛放装置，样品盛放装置设置于第二半椭球罩的第一孔洞所在处的内侧。进气装置，进气装置设置于第二半椭球罩的第二孔洞所在处的外侧且进气时的气体流向朝向样品所在处。太赫兹测试样品装置结构简单，功能易行，使得样品对太赫兹的吸收更为全面，提高测量结果的准确性。
申请人信息
- 申请人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址:621000 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 发明人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 太赫兹测试样品装置 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810570340.6 |
| 申请日 | 2018年6月5日 |
| 公告号 | CN108507970B |
| 公开日 | 2024年2月2日 |
| IPC主分类号 | G01N21/3581 |
| 权利人 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 发明人 | 湛治强; 王雪敏; 沈昌乐; 蒋涛; 彭丽萍; 肖婷婷; 樊龙; 阎大伟; 吴卫东 |
| 地址 | 四川省绵阳市绵山路64号 |
专利主权项内容
1.一种太赫兹测试样品装置，其特征在于，包括：第一半椭球罩，所述第一半椭球罩在长轴方向具有第一开口和第二开口，所述第一开口用于与太赫兹发射装置连接；第二半椭球罩，所述第二半椭球罩在长轴方向具有与所述第二开口尺寸匹配的第三开口，在所述第三开口附近还具有第一孔洞和第二孔洞，所述第二半椭球罩与所述第一半椭球罩在所述第三开口与所述第二开口所在处可拆卸连接，所述第二半椭球罩与所述第一半椭球罩的内表面均有镀金层；样品盛放装置，所述样品盛放装置设置于所述第二半椭球罩的所述第一孔洞所在处的内侧且盛放样品时，样品与所述第一开口相对；进气装置，所述进气装置设置于所述第二半椭球罩的所述第二孔洞所在处的外侧且进气时的气体流向朝向样品所在处，所述第一孔洞和所述第二孔洞位于所述第二半椭球罩的同一截面圆，所述第一孔洞与圆心的连线、所述第二孔洞与圆心的连线呈90°夹角；所述样品盛放装置包括基座、支撑柱和样品座，所述基座与所述第二半椭球罩连接，所述样品座通过所述支撑柱与所述基座连接，所述样品盛放装置具有贯穿所述基座、所述支撑柱以及所述样品座的中空通道，所述中空通道用于让检测装置检测样品性能。