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单次多点同时测量的激光诱导击穿光谱系统及测量方法
摘要文本
本发明公开了一种单次多点同时测量的激光诱导击穿光谱系统及测量方法，该系统包括：激光激发与收集子系统，用于输出激光脉冲并将激光脉冲聚焦成线光斑，收集样品光斑位置产生的等离子体发光并成像到光纤传输与分光子系统；光纤传输与分光子系统，用于对等离子体发光像进行传输并将不同波长的光散开；数据采集与处理子系统，用于将等离子体发光像呈现出来并分析不同位置等离子体发光光谱；电路控制子系统，用于向激光激发与收集子系统和数据采集与处理子系统发送控制信号，以控制各个子系统之间的时间同步。本发明不仅增大了样品测量空间范围，提高了诊断效率，而且缩短了样品测量时间，适用于固体、液体、气体、粉尘等不同领域多点诊断应用。
申请人信息
- 申请人:中国工程物理研究院流体物理研究所
- 申请人地址:621000 四川省绵阳市游仙区绵山路64号
- 发明人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 单次多点同时测量的激光诱导击穿光谱系统及测量方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811104992.7 |
| 申请日 | 2018年9月21日 |
| 公告号 | CN109030463B |
| 公开日 | 2024年1月30日 |
| IPC主分类号 | G01N21/71 |
| 权利人 | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 发明人 | 朱瑜; 周平伟; 钟森城; 彭琛; 李江; 朱礼国 |
| 地址 | 四川省绵阳市游仙区绵山路64号 |
专利主权项内容
1.一种单次多点同时测量的激光诱导击穿光谱系统，其特征在于，包括：激光激发与收集子系统，用于在接收到电路控制子系统输出的控制信号后输出激光脉冲，并将激光脉冲聚焦成线光斑，收集样品光斑位置产生的等离子体发光并成像到光纤传输与分光子系统；光纤传输与分光子系统，用于对等离子体发光像进行传输，并将不同波长的光散开；数据采集与处理子系统，用于收集光纤传输与分光子系统分光后的等离子体发光像，将等离子体发光像呈现出来并分析不同位置等离子体发光光谱；电路控制子系统，用于向激光激发与收集子系统和数据采集与处理子系统发送控制信号，以控制各个子系统之间的时间同步；光纤传输与分光子系统包括传像光纤束和光谱仪，传像光纤束用于将等离子体发光像传输到光谱仪上，光谱仪用于将不同波长的光散开；数据采集与处理子系统包括ICCD相机即增强型阵列光电探测器，ICCD相机用于将等离子体发光像呈现出来并分析不同位置等离子体发光光谱。。微信公众号马克数据网