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一种折射式位移传感器及其测量方法
摘要文本
本发明提供了一种折射式位移传感器及其测量方法,位移传感器包括:三角波反射镜,包括至少一个反射面,所述至少一个反射面沿移动方向依次分布;激光源,用于发射出激光束,且所述激光束入射至三角波反射镜的一个反射面;折射镜,用于接收所述反射面反射的激光束,并使接收的激光束发生折射;光电探测器,用于接收经折射镜折射的激光束,并测量其入射位置;处理系统,用于根据光电探测器接收到的激光束的入射位置变化量,计算出被测物体的位移变化值。本发明一种折射式位移传感器,通过折射镜的设置,可以使得在增加位移传感器放大倍数的同时,降低激光入射至光电探测器的角度,从而提高位移传感器的测量精度。
申请人信息
- 申请人:四川惠科达仪表制造有限公司
- 申请人地址:643000 四川省自贡市沿滩工业园区乘犀路41号
- 发明人: 四川惠科达仪表制造有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种折射式位移传感器及其测量方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811308026.7 |
| 申请日 | 2018年11月5日 |
| 公告号 | CN109084691B |
| 公开日 | 2024年4月5日 |
| IPC主分类号 | G01B11/02 |
| 权利人 | 四川惠科达仪表制造有限公司 |
| 发明人 | 张白; 康学亮 |
| 地址 | 四川省自贡市沿滩工业园区乘犀路41号 |
专利主权项内容
1.一种折射式位移传感器,其特征在于,包括:三角波反射镜,包括至少一个反射面,所述至少一个反射面沿移动方向依次分布;激光源,用于发射出激光束,且所述激光束入射至三角波反射镜的一个反射面;折射镜,用于接收所述反射面反射的激光束,并使接收的激光束发生折射;光电探测器,用于接收经折射镜折射的激光束,并测量其入射位置;处理系统,用于根据光电探测器接收到的激光束的入射位置变化量,计算出被测物体的位移变化值;所述折射镜与光电探测器贴合;所述折射镜的入射面与出射面均为平面,且入射面与出射面相互平行。 微信公众号马克 数据网