基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的方法和系统
摘要文本
本发明公开了一种基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的方法与系统。根据微粒浓度不同衰减系数不同的规律，通过测量介质空间分辨的光学衰减系数能够对其内部微结构进行成像。近红外激光光束通过样品浅层区域时以单次散射为主，通过深层区域时以多次散射为主。本发明采用深度分辨的单次散射模型测量样品浅层区域散射系数，应用基于扩展的惠更斯‑菲涅尔原理的多次散射模型结合分段拟合技术测量样品深层区域散射系数。对从OCT系统采集到的干涉光谱信号进行数据处理，可将OCT强度数据相应转换成浅层和深层衰减系数数据，对重建的浅层高空间分辨率散射系数图像和深层高测量精度散射系数图像进行拼接，可实现样品高分辨率高测量精度的衰减系数成像。
申请人信息
- 申请人:南京航空航天大学
- 申请人地址:210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号
- 发明人: 南京航空航天大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的方法和系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201610343305.1 |
| 申请日 | 2016年5月19日 |
| 公告号 | CN105996999B |
| 公开日 | 2024年1月30日 |
| IPC主分类号 | A61B5/00 |
| 权利人 | 南京航空航天大学 |
| 发明人 | 吴彤; 王青青; 刘友文; 王吉明; 赫崇君; 顾晓蓉 |
| 地址 | 江苏省南京市秦淮区御道街29号 |
专利主权项内容
1.基于OCT测量样品深度分辨衰减系数的系统，其特征在于，该系统包括宽带光源(1)、光隔离器(2)、宽带光纤耦合器(3)、样品臂(9)、参考臂(14)、探测臂(17)；所述的样品臂(9)包括第一偏振控制器(4)、第一光纤准直镜(5)、扫描振镜(6)和第一聚焦物镜(7)；所述的参考臂(14)包括第二偏振控制器(10)、第二光纤准直镜(11)、第二聚焦物镜(12)、平面反射镜(13)；所述的探测臂(17)包括光谱仪(15)、计算机(16)；光谱仪探测的有效干涉光谱信号经数据采集卡采集数据，得到原始的关于波数k的二维干涉光谱信号数据I(k)(18)；由于采集的原始数据的坐标关于波数k是非线性的，首先要对数据I(k)(18)进行滤除直流项和标定，得到干涉数据I(k)(19)，对干涉信号I(k)(19)进行傅里叶变换，将频域的信号转换到空间深度域，即傅里叶变换后得到深度域的数据I(z)(20)，即为空间域的二维OCT强度图像数据；对I(z)(20)分别应用深度分辨的单次散射模型和分段拟合的多次散射模型来测量散射系数μ(21)和μ(23)；分别再对散射系数μ(21)和μ(23)进行单独成像，得到重建的散射图像(22)和(24)；将测量散射系数μ(21)对应重建的散射图像和测量散射系数μ(23)对应重建的散射图像进行拼接，即获得重建清晰的散射系数图像(25)。00z1z2z1z2z1z2