一种数字化天线测试系统及测试方法
摘要文本
本发明公开了一种数字化天线测试系统及相应的测试方法,该系统包括:数字化天线探头阵列、数字化测试设备、数据总线、中心工控机;所述数字化测试设备与所述待测试天线结构连接;所述数字化天线探头阵列与所述待测试天线结构通过空间无线信道连接;所述待测试天线结构、数字化天线探头阵列、数字化测试设备、中心工控机均分别与所述数据总线连接;所述数字化天线探头阵列包括N个数字化天线探头,N为自然数,且N≥2;由于可以一次性同时采集整个空域辐射信号,测试速度提高了N倍;并且由于对各方向辐射信号同时实时采集,方向图、极化特性等天线测试数据真实性更高。
申请人信息
- 申请人:旷良彬
- 申请人地址:201615 上海市松江区九亭镇沪亭北路618弄17号202室
- 发明人: 旷良彬
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种数字化天线测试系统及测试方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710289241.6 |
| 申请日 | 2017年4月27日 |
| 公告号 | CN106970271B |
| 公开日 | 2024年1月12日 |
| IPC主分类号 | G01R29/10 |
| 权利人 | 上海丘天电子科技有限公司 |
| 发明人 | 旷良彬; 彭伏德; 戴雨茹; 朱斌; 许建华 |
| 地址 | 上海市闵行区中春路7001号2幢3楼 |
专利主权项内容
1.一种数字化天线测试系统,用于对待测试天线结构进行测试,其特征在于,包括:数字化天线探头阵列、数字化测试设备、数据总线、中心工控机;所述数字化测试设备与所述待测试天线结构连接;所述数字化天线探头阵列与所述待测试天线结构通过空间无线信道连接;所述待测试天线结构、数字化天线探头阵列、数字化测试设备、中心工控机均分别与所述数据总线连接;所述数字化天线探头阵列包括N个数字化天线探头,N为自然数,且N≥2;所述数字化天线测试系统还包括数传接收机,其通过无线信道分别与所述数字化天线探头阵列以及所述数字化测试设备连接;所述数字化天线探头阵列在上行测试工作模式中发出的打包后的数据以及所述数字化测试设备在下行测试工作模式中发出的打包后的数据经数模转化后形成射频信号辐射至所述数传接收机;所述数传接收机被配置为对接收到的辐射信号依次进行低噪声放大、采样、模数转化、数据处理及打包,并将打包后的数据通过所述数据总线送入所述中心工控机;其中:在上行测试工作模式中:所述中心工控机被配制成用于设定上行测试周期,通过所述数据总线发送上行启动脉冲使各设备启动工作,并通过所述数据总线发送上行状态设置信号以及上行采样时钟同步信号;所述数字化测试设备被配制成用于接收所述上行状态设置信号,产生一上行激励信号,并将所述上行激励信号发送给所述待测试天线结构;所述待测试天线结构被配置成用于在所述上行激励信号的激励下以及所述上行状态设置信号的控制下,工作在发射状态下,向空间辐射信号;所述数字化天线探头阵列被配置成在所述上行状态设置信号以及所述上行采样时钟同步信号的控制下从N个空间无线信道对所述待测试天线结构发出的辐射信号进行实时采样,依次对采样后的信号进行模数转化、数据处理及打包,并将打包后的数据通过所述数据总线送入所述中心工控机,由所述中心工控机对打包后的数据进行收集和分析处理,得到所述待测试天线结构的上行测试数据;在下行测试工作模式中:所述中心工控机被配制成用于设定下行测试周期,通过所述数据总线发送下行启动脉冲使各设备启动工作,并通过所述数据总线发送下行状态设置信号以及下行采样时钟同步信号;所述数字化天线探头阵列被配制成用于接收所述下行状态设置信号,产生一下行激励信号,并将所述下行激励信号发送给所述待测试天线结构;且被配置成用于在所述下行状态设置信号的控制下向空间辐射测试信号;所述待测试天线结构被配置成用于在所述下行激励信号的激励下以及所述下行状态设置信号的控制下工作在接收作状态下,接收所述数字化天线探头阵列辐射的测试信号,并将接收到的测试信号发出;所述数字化测试设备被配置成在所述下行状态设置信号以及所述下行采样时钟同步信号的控制下对所述待测试天线结构发出的测试信号进行实时采样,依次对采样后的信号进行模数转化、数据处理及打包,并将打包后的数据通过所述数据总线送入所述中心工控机,由所述中心工控机对打包后的数据进行收集、解码和分析处理,得到所述待测试天线结构的下行测试数据;所述数字化测试设备包括依次相连的第二A/D电路、第二DSP电路以及第二D/A电路,且所述第二A/D电路、第二DSP电路以及第二D/A电路均分别与所述数据总线连接;其中:在上行测试工作模式中,所述第二DSP电路被配置为在所述上行状态设置信号的控制下产生数字信号,所述第二D/A电路被配置为在所述上行采样时钟同步信号的控制下将所述第二DSP电路产生的数字信号进行数模转化,形成激励信号,并发送给所述待测试天线结构;在下行测试工作模式中,所述第二A/D电路在所述下行状态设置信号以及所述下行采样时钟同步信号的控制下对所述待测试天线结构发出的测试信号进行实时采样,并对采样后的信号进行模数转化,形成数字采样信号;所述第二DSP电路对所述数字采样信号进行数据处理及打包,并将打包后的数据通过所述数据总线送入所述中心工控机。