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一种基于频分的近场天线测试系统及其测试方法
摘要文本
本申请公开了一种基于频分的近场天线测试系统,待测天线为阵列天线、相控阵天线或反射面天线;当待测天线作为接收天线时,所述近场天线测试系统包括信号源、变频单元、多个探头、待测天线、接收机;信号源产生初始信号;一路初始信号经过变频单元转换为一组发射信号并分别送往多个探头同时对外发射;所述一组发射信号的频率各异且均近似于初始信号的频率;多个探头辐射出的电磁波在空间传输后被待测天线同时接收并送往接收机,所接收信号经过接收机检测得到其中各不同频率分量的幅度和相位。本申请不仅提高了天线测试速度与测试效率,还具有测试结果准确的优点。
申请人信息
- 申请人:上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司
- 申请人地址:201203 上海市浦东新区郭守敬路498号21号105室
- 发明人: 上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于频分的近场天线测试系统及其测试方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710100693.5 |
| 申请日 | 2017年2月23日 |
| 公告号 | CN106841828B |
| 公开日 | 2024年1月30日 |
| IPC主分类号 | G01R29/10 |
| 权利人 | 上海霍莱沃电子系统技术股份有限公司 |
| 发明人 | 周建华; 毛小莲; 王玉峰 |
| 地址 | 上海市浦东新区郭守敬路498号21号105室 |
专利主权项内容
1.一种基于频分的近场天线测试系统,其特征是,待测天线为阵列天线或相控阵天线或反射面天线;当待测天线作为接收天线时,所述近场天线测试系统包括信号源、变频单元、多个探头、待测天线、接收机;信号源产生初始信号;一路初始信号经过变频单元转换为一组发射信号并分别送往多个探头同时对外发射;所述一组发射信号的频率各异且均近似于初始信号的频率;多个探头辐射出的电磁波在空间传输后被待测天线同时接收并送往接收机,所接收信号经过接收机检测得到其中各不同频率分量的幅度和相位。