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一种抗干扰的测距方法及装置
摘要文本
本发明公开了一种抗干扰的测距方法和装置，该方法中第一光测距装置会检测光探测过程中是否受到第二光测距装置的干扰，当检测到光探测过程中受到第二光测距装置的干扰时，则将光探测过程延迟预设时间，当检测到光探测过程中没有收到第二光测距装置的干扰时，则第一光测距装置获取光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程以获得测距结果。可见，第一光测距装置检测到光探测过程受到其它光测距装置的干扰后，将光探测过程延迟预设时间，使得第一光测距装置的光探测过程，不会受到第二光测距装置的光探测过程的影响，确保第一光测距装置在光探测过程中所采集的探测数据的准确性，进而提高了第一光测距装置测距的准确性。。该数据由<马克数据网>整理
申请人信息
- 申请人:北醒(北京)光子科技有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区信息路甲28号10层A座10A
- 发明人: 北醒(北京)光子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种抗干扰的测距方法及装置 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201711241363.4 |
| 申请日 | 2017年11月30日 |
| 公告号 | CN108802746B |
| 公开日 | 2024年2月13日 |
| IPC主分类号 | G01S17/08 |
| 权利人 | 北醒(北京)光子科技有限公司 |
| 发明人 | 冯强; 卢锁; 李旭兴; 沃伦; 张莹; 刘浩; 张庆舜; 郑凯; 疏达; 李远 |
| 地址 | 北京市海淀区创业路六号自主创新大厦3层3030 |
专利主权项内容
1.一种抗干扰的测距方法，其特征在于，应用于测距系统中的任意一个光测距装置，所述方法包括：第一光测距装置检测光探测过程是否受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰；当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间；所述第一光测距装置将所述光探测过程延迟预设时间包括：所述第一光测距装置根据时间比，确定所述预设时间为所述光探测过程的N倍，其中，N为不大于所述时间比的正整数，所述时间比为所述第一光测距装置的数据处理过程与所述光探测过程的时间的比值；所述第一光测距装置延迟所述预设时间后进行所述光探测过程；当检测到所述第一光测距装置的所述光探测过程没有受到所述测距系统中第二光测距装置的干扰时，所述第一光测距装置获取所述光探测过程所采集的探测数据，进行数据处理过程获得测距结果。 百度搜索马 克 数 据 网