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半导体器件封装及制造其之方法

申请号: CN202311633196.3
申请人: 日月光半导体制造股份有限公司
申请日期: 2017年12月19日

摘要文本

本发明的至少一些实施例涉及一种半导体器件封装及制造其之方法。该半导体器件封装包括具有一第一凹槽和一半导体器件的一基板。该第一凹槽具有一第一部分、一第二部分和一第三部分,且该第二部分位于该第一部分和该第三部分之间。该半导体器件包括一膜且设置在该第一凹槽的该第二部分上。该半导体器件具有与该基板相邻且相对于该膜的一第一表面。该膜被该第一表面暴露。 关注公众号马 克 数 据 网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 半导体器件封装及制造其之方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202311633196.3
申请日 2017年12月19日
公告号 CN117623210A
公开日 2024年3月1日
IPC主分类号 B81B7/00
权利人 日月光半导体制造股份有限公司
发明人 萧旭良; 赖律名; 黄敬涵; 沈家弘
地址 中国台湾高雄市楠梓区经三路26号

专利主权项内容

1.一种半导体器件封装,其包含:一基板,其具有一第一凹槽,并包含一表面自该第一凹槽暴露出来;一半导体器件,其设置在该基板的该表面上并包含一第一表面面向該基板,该半导体器件部分地覆盖该第一凹槽,且该第一凹槽部分地自该半导体器件暴露出来;及一粘合剂,其设置在该半导体器件和该基板之间,该粘合剂延伸至该第一凹槽中,且该粘合剂接触该半导体器件的第一表面。