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检测方法及装置
摘要文本
本发明提供了一种检测方法及装置，属于防伪检测技术领域。该检测方法包括：获取基准成像光谱数据及待测物品表面的成像光谱数据；根据基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品表面的光谱反射率；将所述待测物品的光谱反射率与标定库中对应于该待测物品的原物品的光谱反射率进行匹配；若所述光谱反射率匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致；若所述光谱反射率匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致。本发明提供的检测方法及装置能够有效地鉴定物品的真伪，且滤除了外部环境光的变化以及系统光源的光谱变化对检测结果的影响，提高了检测结果的准确性。
申请人信息
- 申请人:成都中信华瑞科技有限公司
- 申请人地址:610000 四川省成都市天府新区兴隆街道场镇社区正街57号2幢1单元9号
- 发明人: 成都中信华瑞科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 检测方法及装置 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710062783.X |
| 申请日 | 2017年1月25日 |
| 公告号 | CN106841035B |
| 公开日 | 2024年2月23日 |
| IPC主分类号 | G01N21/01 |
| 权利人 | 成都中信华瑞科技有限公司 |
| 发明人 | 秦军; 秦悦 |
| 地址 | 四川省成都市天府新区兴隆街道场镇社区正街57号2幢1单元9号 |
专利主权项内容
1.一种检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取基准成像光谱数据及待测物品表面的成像光谱数据；根据所述基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品表面的光谱反射率；将所述待测物品的光谱反射率与标定库中对应于该待测物品的原物品的光谱反射率进行匹配；若所述光谱反射率匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致；若所述光谱反射率匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致；其中，所述的根据所述基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品表面的光谱反射率，包括：根据所述基准成像光谱数据得到第一光谱能量数据；根据所述待测物品表面的成像光谱数据得到第二光谱能量数据；根据所述第一光谱能量数据与第二光谱能量数据的比值与基准反射率的乘积得到所述待测物品的光谱反射率。