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拼接图像校验方法及装置、X射线摄影系统
摘要文本
拼接图像校验方法及装置、X射线摄影系统，该方法包括：获取拼接图像中的重叠区域，所述拼接图像由第一图像和第二图像拼接获得；对第三图像和第四图像以预设尺寸进行图像分块，第三图像为第一图像中的重叠区域，第四图像为第二图像中的重叠区域；对第三图像的第一图像块集和第四图像的第二图像块集进行匹配以生成初始匹配块对集，第一图像块集是指第三图像中为非直接曝光区域的图像块的集合，第二图像块集是指第四图像中为非直接曝光区域的图像块的集合；若匹配块对的个数大于预设的阈值，则拼接图像拼接正确，所述匹配块对是指第一图像块和第二图像块位置相同的初始匹配块对。本发明技术方案复杂度低，运算量小，拼接图像校验的准确度高。
申请人信息
- 申请人:上海联影医疗科技股份有限公司
- 申请人地址:201800 上海市嘉定区城北路2258号
- 发明人: 上海联影医疗科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 拼接图像校验方法及装置、X射线摄影系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311520388.3 |
| 申请日 | 2016年9月30日 |
| 公告号 | CN117576023A |
| 公开日 | 2024年2月20日 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 发明人 | 胡扬; 牛杰; 滕万里 |
| 地址 | 上海市嘉定区城北路2258号 |
专利主权项内容
1.一种拼接图像校验方法，其特征在于，所述方法包括：获取拼接图像中重叠区域对应的第三图像和第四图像；所述拼接图像由第一图像和第二图像拼接获得；所述第三图像为所述第一图像中的重叠区域；所述第四图像为所述第二图像中的重叠区域；对所述第三图像进行图像分块，得到第一图像块集；以及，对所述第四图像进行图像分块，得到第二图像块集；将所述第一图像块集和所述第二图像块集进行匹配，生成初始匹配块对集；所述初始匹配块对集中每一个初始匹配块对包括第一图像块和第二图像块；判断所述每一个初始匹配块对中的第一图像块的位置与第二图像块的位置是否相同；将位置相同的初始匹配块对确定为目标匹配块对；若所述目标匹配块对的数量大于预设阈值，则确定所述拼接图像拼接正确。