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一种电子倍增电荷耦合器件的背面结构及其制作方法

申请号: CN201710186796.8
申请人: 安徽北方微电子研究院集团有限公司
申请日期: 2017年3月27日

摘要文本

本发明涉及电子倍增电荷耦合器件的背面结构及其制作方法,背面结构包括EMCCD芯片、电极引出区、光敏区、存储增益区、离子注入区、增透膜和金属屏蔽层,电极引出区设置于EMCCD芯片背面两侧,电极引出区上间隔设有压焊图形,EMCCD芯片背面的光敏区和存储增益区位置在电极引出区之间,光敏区和存储增益区内部都有通过低能离子注入形成的离子注入区,在光敏区表面的增透膜,能够降低驻波效应、减少反射光线;在存储增益区表面的金属屏蔽层,能够防止入射光在存储增益区表面发生透射。本发明可以用于改善电子倍增电荷耦合器件的光电转换效率,同时还能够降低器件制作成本,并且提高了产品的成品率。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种电子倍增电荷耦合器件的背面结构及其制作方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201710186796.8
申请日 2017年3月27日
公告号 CN106847852B
公开日 2024年2月27日
IPC主分类号 H01L27/148
权利人 安徽北方微电子研究院集团有限公司
发明人 刘庆飞; 陈计学; 赵建强; 朱小燕; 赵绢
地址 安徽省蚌埠市龙子湖区汤和路2016号

专利主权项内容

1.一种电子倍增电荷耦合器件的背面结构,其特征在于:在EMCCD芯片(1)的背面设有电极引出区(2)、光敏区(3)、存储增益区(4)、离子注入区(5)、增透膜(6)和金属屏蔽层(7),电极引出区(2)、光敏区(3)、存储增益区(4)相邻形成于EMCCD芯片(1)的背面硅体内部,通过低能离子注入在光敏区(3)和存储增益区(4)内部形成离子注入区(5),在光敏区(3)表面敷有增透膜(6),存储增益区(4)表面设有增透膜(6)和金属屏蔽层(7)。