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一种硬盘背板的测试治具
摘要文本
本发明提供了一种硬盘背板的测试治具，包括接口单元、以及设置于测试治具内部的单片机、多个端口扩展单元和多个切换单元；接口单元包括多个接口组和第一通信接口；其中，接口组与待测硬盘背板上的一个硬盘的接口组对应连接；切换单元与接口组相对应：切换单元的一端与对应的接口组连接，另一端分别与单片机和对应的端口扩展单元连接；端口扩展单元与单片机连接，用于将从切换单元接收的多路数据转换为单路数据并输出至单片机；单片机通过第一通信接口与外设电子设备连接，用于依据测试程序控制多个切换单元之间的切换，从而实现对待测硬盘背板上的不同的硬盘的测试。本发明成本低，测试时间短，测试覆盖率高，测试风险低。
申请人信息
- 申请人:达丰(上海)电脑有限公司; 达功(上海)电脑有限公司; 达人(上海)电脑有限公司; 达利(上海)电脑有限公司; 达群(上海)电脑有限公司
- 申请人地址:201610 上海市松江区松江出口加工区三庄路58弄2号
- 发明人: 达丰(上海)电脑有限公司; 达功(上海)电脑有限公司; 达人(上海)电脑有限公司; 达利(上海)电脑有限公司; 达群(上海)电脑有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种硬盘背板的测试治具 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201610859249.7 |
| 申请日 | 2016年9月28日 |
| 公告号 | CN107870834B |
| 公开日 | 2024年3月29日 |
| IPC主分类号 | G06F11/22 |
| 权利人 | 达丰(上海)电脑有限公司; 达功(上海)电脑有限公司; 达人(上海)电脑有限公司; 达利(上海)电脑有限公司; 达群(上海)电脑有限公司 |
| 发明人 | 孙广文; 赵铁帅; 孟祥忙 |
| 地址 | 上海市松江区松江出口加工区三庄路58弄2号; ; ; ; |
专利主权项内容
1.一种硬盘背板的测试治具，其特征在于，包括：接口单元、以及设置于所述测试治具内部的单片机、多个端口扩展单元和多个切换单元；所述接口单元包括多个接口组和第一通信接口；其中，所述接口组与待测硬盘背板上的一个硬盘的接口组对应连接；所述切换单元与所述接口组相对应：所述切换单元的一端与对应的所述接口组连接，另一端分别与所述单片机和对应的所述端口扩展单元连接；所述切换单元用于将所述接口单元接入的所述待测硬盘背板的数据按照所述待测硬盘背板的各个硬盘进行整合，并将整合的数据分别传输至所述单片机和对应的所述端口扩展单元；所述端口扩展单元与所述单片机连接，用于将从所述切换单元接收的多路数据转换为单路数据并输出至所述单片机；所述单片机通过所述第一通信接口与外设电子设备连接，用于依据测试程序控制多个所述切换单元之间的切换，从而实现对所述待测硬盘背板上的不同的硬盘的测试。