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X射线检测器
摘要文本
本文公开了一种适于检测X射线的装置。所述装置可包括X射线吸收层(110)、电子层(120)和分布层(126)。所述X射线吸收层(110)可包括第一多个电触点(119B)，并配置成由入射到所述X射线吸收层(110)上的X射线在所述第一多个电触点(119B)上产生电信号。所述电子层(120)可包括第二多个电触点(125)和电子系统(121)，其中所述电子系统(121)电连接到所述第二多个电触点(125)，并配置成处理或解释所述电信号。所述第一多个电触点(119B)和所述第二多个电触点(125)具有不同的空间分布。所述分布层(126)配置成将所述第一多个电触点(119B)电连接到所述第二多个电触点(125)。
申请人信息
- 申请人:深圳帧观德芯科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区南海大道1019号南山医疗器械产业园A、B座B507
- 发明人: 深圳帧观德芯科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | X射线检测器 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201780093157.5 |
| 申请日 | 2017年7月26日 |
| 公告号 | CN110892291B |
| 公开日 | 2024年3月12日 |
| IPC主分类号 | G01T1/24 |
| 权利人 | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 发明人 | 曹培炎; 刘雨润 |
| 地址 | 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区南海大道1019号南山医疗器械产业园A、B座B507 |
专利主权项内容
1.一种适于检测X射线的装置，包括：X射线吸收层，该X射线吸收层包括第一多个电触点，并且该X射线吸收层配置成由入射到所述X射线吸收层上的X射线在所述第一多个电触点上产生电信号；电子层，该电子层包括第二多个电触点和电子系统，其中，所述电子系统电连接至所述第二多个电触点，并且所述电子系统配置成处理或解释所述电信号；分布层，该分布层配置成将所述第一多个电触点电连接到所述第二多个电触点，其中，所述X射线吸收层或所述电子层包括分布层；其中，所述第一多个电触点和所述第二多个电触点具有不同的空间分布。