光学检查设备及光学检查方法
摘要文本
本发明公开一种光学检查设备及光学检查方法,该光学检查设备包括;第一检测装置,包括第一显示装置和第一控制装置,第一控制装置与第一显示装置连接,第一控制装置用于控制第一显示装置的状态;第二检测装置,包括第二显示装置和第二控制装置,第二控制装置与第二显示装置连接,所述第二控制装置用于控制第二显示装置的状态;其中,第一显示装置与第二显示装置相对设置;以及感应装置,用于感应目标位置移动并将信号发送至第一控制装置与第二控制装置,感应装置设置于第一检测装置和第二检测装置之间。本发明的光学检查设备可以减少人员配置,避免了大量移动消耗,并且可自动切换光源,减少了检测干扰。 来自马克数据网
申请人信息
- 申请人:惠科股份有限公司; 重庆惠科金渝光电科技有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园厂房1、2、3栋, 九州阳光1号厂房5、7楼
- 发明人: 惠科股份有限公司; 重庆惠科金渝光电科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 光学检查设备及光学检查方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710654053.9 |
| 申请日 | 2017年8月2日 |
| 公告号 | CN107314788B |
| 公开日 | 2024年1月26日 |
| IPC主分类号 | G01D21/00 |
| 权利人 | 惠科股份有限公司; 重庆惠科金渝光电科技有限公司 |
| 发明人 | 李坤原 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区工业二路1号惠科工业园厂房1栋一层至三层、五至七层, 6栋七层; 重庆市巴南区界石镇石景路1号 |
专利主权项内容
1.一种光学检查设备,其特征在于,包括;第一检测装置,包括第一显示装置和第一控制装置,所述第一控制装置与所述第一显示装置连接,所述第一控制装置用于控制所述第一显示装置的状态;第二检测装置,包括第二显示装置和第二控制装置,所述第二控制装置与所述第二显示装置连接,所述第二控制装置用于控制所述第二显示装置的状态;其中,所述第一检测装置和所述第二检测装置相同且镜像对称设置,并用于显示面板检测;其中,所述第一显示装置与第二显示装置相对设置,其中,所述第一检测装置内光源关闭,所述第二检测装置内光源开启,或,所述第一检测装置内光源开启,所述第二检测装置内光源关闭;以及感应装置,用于感应目标位置移动并将信号发送至所述第一控制装置与第二控制装置,所述感应装置设置于所述第一检测装置和所述第二检测装置之间;其中,所述感应装置包括与所述第一控制装置相连的第一感应器和与所述第二控制装置相连的第二感应器,所述第一感应器和所述第二感应器对称设置,且所述第一感应器设置在所述第一检测装置的一侧,所述第二感应器设置在所述第二检测装置的一侧;所述第一控制装置,用于基于所述信号关闭或开启所述第一检测装置的光源,所述第二控制装置,用于基于所述信号关闭或开启所述第二检测装置的光源,以防止所述所述第一检测装置和所述第二检测装置在检测过程中彼此造成干扰。