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一种微波暗室
摘要文本
本发明公开了一种微波暗室，包括电磁屏蔽室、安装于所述电磁屏蔽室内壁的吸波材料及测量天线，所述吸波材料至少上部为周期性角锥，其特征在于，所述微波暗室中至少位于非垂直入射的主反射区的吸波材料的角锥的棱边朝向主要来波方向。本发明通过一种简单，易操作，低成本的方式，在不改变暗室结构或吸波材料高度的情况下，仅仅通过改变吸波材料的布局就可以极大程度降低暗室反射，创造一个更纯净的测量环境，提高测量精度。
申请人信息
- 申请人:深圳市通用测试系统有限公司
- 申请人地址:518101 广东省深圳市宝安区西乡街道桃花源科技创新园A栋孵化楼101-106
- 发明人: 深圳市通用测试系统有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种微波暗室 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710020730.1 |
| 申请日 | 2017年1月12日 |
| 公告号 | CN106597129B |
| 公开日 | 2024年2月2日 |
| IPC主分类号 | G01R29/10 |
| 权利人 | 深圳市通用测试系统有限公司 |
| 发明人 | 漆一宏; 于伟; 罗庆春; 沈鹏辉 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区航城街道九围社区洲石路564号开大玩具厂厂房整套 |
专利主权项内容
1.一种微波暗室，包括电磁屏蔽室、安装于所述电磁屏蔽室内壁的吸波材料及测量天线，所述吸波材料至少上部为周期性角锥，其特征在于，所述微波暗室中至少位于非垂直入射的主反射区的吸波材料的角锥的棱边朝向主要来波方向，所述吸波材料的角锥的棱边朝向主要来波方向，包括：将吸波材料沿着各安装面的法线转动45度使角锥的棱边朝向主要来波方向；所述微波暗室中测量天线周围的吸波材料的角锥的棱边正对主要来波方向。 更多数据：