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一种低温测试探杆
摘要文本
本申请公开了一种低温测试探杆，解决超导器件超低频电压参数测量准确度低的问题。所述低温测试探杆用于连接超导器件及常温测试仪器，包含接线盒、外管、滑动法兰、波导、偏置引线、超低频电压输出引线；滑动法兰位于外管的外壁，用于将低温测试探杆固定于低温杜瓦瓶口；外管的外壁和低温杜瓦的外壁都是金属，通过滑动法兰固定后处于导通状态；接线盒位于低温测试探杆的顶部，与外管固定；偏置引线、波导和超低频电压输出引线位于接线盒和外管内部，用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件；超低频电压输出引线为双芯屏蔽线。将双芯屏蔽线的屏蔽层连接低温杜瓦的外壁和地后，测量误差达到了10‑4量级。
申请人信息
- 申请人:北京无线电计量测试研究所
- 申请人地址:100854 北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱
- 发明人: 北京无线电计量测试研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种低温测试探杆 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201611127512.X |
| 申请日 | 2016年12月9日 |
| 公告号 | CN106501561B |
| 公开日 | 2024年2月6日 |
| IPC主分类号 | G01R1/06 |
| 权利人 | 北京无线电计量测试研究所 |
| 发明人 | 康焱 |
| 地址 | 北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱 |
专利主权项内容
1.一种低温测试探杆，用于连接超导器件及常温测试仪器，包含接线盒、外管、滑动法兰、波导、偏置引线、超低频电压输出引线，其特征在于，所述滑动法兰位于所述外管的外壁，用于将低温测试探杆固定于低温杜瓦瓶口；所述外管的外壁和所述低温杜瓦的外壁都是金属，通过所述滑动法兰固定并处于导通状态；所述接线盒位于所述低温测试探杆的顶部，所述接线盒外壁为金属，与所述外管固定并处于导通状态；所述偏置引线、波导和超低频电压输出引线位于接线盒和外管内部，用于连接位于所述低温测试探杆底部的超导器件；所述超低频电压输出引线为双芯屏蔽线；所述双芯屏蔽线的屏蔽层引出线连接到低温杜瓦的外壁上；所述双芯屏蔽线的屏蔽层引出线接地；还包含第二双芯屏蔽线，用于连接常温测量仪器与所述接线盒的电压输出端。