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一种贴片电容结构及其性能检测方法
摘要文本
本发明公开了一种贴片电容结构及其性能检测方法，包括一电容坯体及包裹于电容坯体外的外电极端，所述电容坯体包括复数个陶瓷介质膜片叠加构成，上下相邻陶瓷介质膜片错位分布，其特征在于：所述每一陶瓷介质膜片上印刷有电极层，该电极层包括覆盖于陶瓷介质膜片上的内电极层，以及突出于所述陶瓷介质膜片两侧长度方向边缘上的翼型电极层，所述翼型电极层包裹于所述外电极端的金属片内；所述电容坯体制作步骤包括：⑴陶瓷介质膜片的制作；⑵丝网印刷和叠加；(3)切割；⑷电极检测，测量翼型电极层与电容坯体的边缘之间的距离，以此数据判断电容坯体的合格与否。本发明通过利用外露的翼型电极层，实现了直接检查，避免因破坏性检查而造成的损失。
申请人信息
- 申请人:国巨电子(中国)有限公司
- 申请人地址:215000 江苏省苏州市新区竹园路10号
- 发明人: 国巨电子(中国)有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种贴片电容结构及其性能检测方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201711210287.0 |
| 申请日 | 2017年11月28日 |
| 公告号 | CN108172397B |
| 公开日 | 2024年1月30日 |
| IPC主分类号 | H01G4/30 |
| 权利人 | 国巨电子(中国)有限公司 |
| 发明人 | 王樹生; 郝萌萌 |
| 地址 | 江苏省苏州市新区竹园路10号 |
专利主权项内容
1.一种贴片电容的性能检测方法，包括电容坯体制作及外电极端制作两部分，其特征在于：所述电容坯体制作步骤包括：(1)陶瓷介质膜片的制作；(2)丝网印刷和叠加；(3)切割；(4)电极检测；其中，所述丝网印刷过程中，在陶瓷介质膜片两侧长度方向的边缘上印刷获得翼型电极层，所述翼型电极层突出于所述陶瓷介质膜片外，且位于长度方向侧边的中点位置上；所述切割时，沿所述翼型电极层切割，使得切割完成后的所述电容坯体四个边角上分别留有所述翼型电极层；所述步骤⑷电极检测中，根据测量所述翼型电极层与所述电容坯体的边缘之间的距离，计算获得该电容坯体内部电极的长偏和宽偏数据，以此数据判断电容坯体的合格与否。