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一种新型传感器信号采集芯片的基准电流测试方法和结构
摘要文本
一种新型的传感器信号采集芯片的基准电流测试方法和结构。该方法通过重新搭建电路，将基准电流从传感器采集芯片内部引出到芯片外部，并选择合适的测试点，进行基准电流的精准测试。该基准电流的测试结构包括一与原基准电流电路完全相同的新搭建电路、电流引出元件、合适的电流测试点和电流测试元件。
申请人信息
- 申请人:苏州格美芯微电子有限公司
- 申请人地址:江苏省苏州市高新区滨河路205号3幢702室
- 发明人: 苏州格美芯微电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种新型传感器信号采集芯片的基准电流测试方法和结构 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201710155026.7 |
| 申请日 | 2017年3月14日 |
| 公告号 | CN106802365B |
| 公开日 | 2024年2月2日 |
| IPC主分类号 | G01R19/257 |
| 权利人 | 苏州格美芯微电子有限公司 |
| 发明人 | 江石根 |
| 地址 | 江苏省苏州市高新区滨河路205号3幢702室 |
专利主权项内容
1.一种传感器信号采集芯片的基准电流的测试方法，其包括如下步骤：在传感器信号采集芯片内部搭建新电路，其中所述新电路与原基准电流的电路在空间上完全没有接触点，且该新电路与原基准电流的电路完全一致；将新电路的电流引导至传感器信号采集芯片外部；在传感器信号采集芯片外部选择合适的电流测试点；采用常规的电流测试方法测量电流测试点处的电流。