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一种硅棒的硬度评估方法

申请号: CN201711485369.6
申请人: 洛阳阿特斯光伏科技有限公司
申请日期: 2017年12月30日

摘要文本

本发明公开了一种硅棒硬度的评估方法,所述方法包括:(1)切取硅晶体,得到至少两块硅棒;(2)从至少两块硅棒中选定参考硅棒并分别测量参考硅棒的硬度,得到参考硅棒的硬度数据,根据参考硅棒的硬度数据评估所有硅棒硬度。本发明的方法通过选择硅棒特定区域进行显微硬度测试,根据硅棒的硬度测试结果,将多晶硅棒分为正常硬度、高硬度和超高硬度三类硅棒,针对不同硬度的硅棒,采用相应的切割用线工艺,可以避免不同硬度硅棒导致的金刚石磨损不均匀,进而影响切割良率甚至断线的不良比例的问题,使得多晶金刚线切片的综合用线降低,切割良率提升,从而降低多晶金刚线切片成本。 关注微信公众号马克数据网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种硅棒的硬度评估方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201711485369.6
申请日 2017年12月30日
公告号 CN108225955B
公开日 2024年1月12日
IPC主分类号 G01N3/42
权利人 洛阳阿特斯光伏科技有限公司
发明人 李飞龙; 谷宁宁; 熊震; 朱军; 邢国强
地址 河南省洛阳市洛龙科技园关林大道10号

专利主权项内容

1.一种硅棒硬度的评估方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)切取硅晶体,得到至少4块硅棒;(2)从至少4块硅棒中选定参考硅棒并分别测量参考硅棒的硬度,得到参考硅棒的硬度数据,根据参考硅棒的硬度数据评估所有硅棒硬度;步骤(2)一条对角线上的硅棒为参考硅棒,分别测量参考硅棒的硬度数据以评估全部硅棒的硬度数据,所述对角线为硅棒的顶部或底部所在的面的对角线;或者,选取位于侧边位置的至少一半的硅棒作为“L”型参考硅棒的一边,作“L”型使参考硅棒既包含位于顶角位置的硅棒,又包含位于侧边位置的硅棒和位于内部位置的硅棒,分别测量参考硅棒的硬度数据以评估全部硅棒的硬度数据;根据参考硅棒的硬度数据,评估除参考硅棒以外的其他硅棒的硬度数据的方法为:根据位于顶角位置的参考硅棒的硬度数据,评估位于顶角位置的未测量硅棒的硬度数据,记为M,所述评估取质量加权平均值;根据位于非顶角位置的参考硅棒的硬度数据,评估除位于顶角位置以及侧边位置的未测量硅棒的硬度数据,记为N,所述评估取质量加权平均值;位于侧边位置的未测量硅棒的硬度数据为M和N的平均值。