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一种望远镜系统多视场波前测量装置及方法

申请号: CN201711423799.5
申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所; 中国科学院大学
申请日期: 2017年12月25日

摘要文本

本发明提出了一种望远镜系统多视场波前测量装置及方法。该装置系统包括激光器、激光准直镜、分光板、哈特曼波前测量仪、数据处理上位机、五维调节平台、电动旋转台、双轴倾斜平台和标准平面反射镜,该装置根据望远镜系统的工作波长选取激光器的工作波长,通过哈特曼波前测量仪测量加入被测望远镜系统前、后的波前计算得到被测望远镜系统的中心视场波前和外视场波前,可通过加入缩束镜扩大了哈特曼测量口径范围,从而实现了一套装置便可测量望远镜系统多视场的波前,并且本发明测量精度较高、适用范围广、测量过程简便。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种望远镜系统多视场波前测量装置及方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201711423799.5
申请日 2017年12月25日
公告号 CN107966279B
公开日 2024年1月30日
IPC主分类号 G01M11/02
权利人 中国科学院西安光学精密机械研究所; 中国科学院大学
发明人 陈国庆; 薛彬; 杨建峰; 马小龙; 赵意意; 贺应红; 周少攀; 吕娟; 闫兴涛; 李福; 钱崇森
地址 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号; 北京市石景山区玉泉路19号甲

专利主权项内容

1.一种望远镜系统多视场波前测量方法,所述望远镜系统的出瞳口径大于其感光尺寸,采用的望远镜系统多视场波前测量装置包括激光器(1)、激光准直镜(2)、分光板(3)、哈特曼波前测量仪(4)、数据处理上位机(5)、五维调节平台(6)、电动旋转台(7)、双轴倾斜平台(8)以及标准平面反射镜(9);激光器(1)发出激光光束通过激光准直镜(2)后产生平面波光束,平面波光束45°入射分光板(3)后形成相互垂直的一路透射光和一路反射光;所述透射光的光路上依次设五维调节平台(6)和标准平面反射镜(9);被测望远镜系统(10)安装在五维调节平台(6)上;标准平面反射镜(9)的下方安装双轴倾斜平台(8);所述电动旋转台(7)安装在被测望远镜系统(10)和五维调节平台(6)之间或者安装在标准平面反射镜(9)于双轴倾斜平台(8)之间;所述透射光经标准平面反射镜(9)反射后按原路返回,按原路返回的光再次经分光板(3)反射后的光路上设置哈特曼波前测量仪(4);所述哈特曼波前测量仪(4)与数据处理上位机(5)电连接;所述测量装置中分光板(3)与被测望远镜系统(10)之间或者分光板(3)与哈特曼波前测量仪(4)之间安装缩束镜(11);其中,激光器(1)发出激光光束的波长为被测望远镜系统(10)的工作波长;其特征在于,包括以下步骤:1)测量未安装被测望远镜系统(10)时,测量系统本体的波前1.1)激光器(1)发射出与被测望远镜系统(10)的工作波长相同的激光,通过激光准直镜(2)后形成平面波光束;1.2)平面波光束经过分光板(3)后,透射光在标准平面反射镜(9)的作用下原路返回,再次经过分光板(3)反射后垂直入射至哈特曼波前测量仪(4)的感光面;其中,标准平面反射镜(9)的俯仰角和倾斜角通过双轴倾斜平台(8)进行调节,使得哈特曼波前测量仪(4)测得光束的俯仰、倾斜均为零;1.3)通过数据处理上位机(5)设置哈特曼波前测量仪(4)曝光时间使哈特曼波前测量仪感光面上的光强为探测器饱和光强95%~99%之间,设置采样20次后求取平均值,从而获得测量系统本体的波前;1.4)通过数据处理上位机(5)将测量的测量系统本体的波前数据保存,记为W;system2)测量被测望远镜系统(10)中心视场的波前记为W;Field_02.1)在五维调节平台(6)上安装被测望远镜系统(10),激光器(1)发射出与被测望远镜系统(10)的工作波长相同的激光,通过激光准直镜(2)后形成平面波光束;2.2)平面波光束经过分光板(3)后,粗调五维调节平台(6)使得透射光通过被测望远镜系统(10)后,垂直入射标准平面反射镜(9)后按原路返回至分光板(3),再经分光板(3)反射至哈特曼波前测量仪(4)的感光面;2.3)通过五维调节平台(6)精细调节被测望远镜系统(10)的俯仰、倾斜、方位及高低使得哈特曼波前测量仪(4)测得射入的光束的俯仰、倾斜为零,并且光束在哈特曼波前测量仪(4)的感光面中心;2.4)通过数据处理上位机(5)设置哈特曼波前测量仪(4)曝光时间使哈特曼波前测量仪感光面上的光强为探测器饱和光强95%~99%之间的范围,设置采样20次后求取平均值,从而获得加入被测望远镜系统(10)后,并在其零视场条件下测量系统的波前,记为W;02.5)由数据处理上位机(5)根据下式计算被测望远镜系统(10)中心视场的波前W;Field_03)测量被测望远镜系统(10)外视场的波前W;Field_θ3.1)调节电动旋转台(7)使得标准平面反射镜(9)旋转的角度θ与被测望远镜系统(10)所需测量的视场角相等;3.2)通过五维调节平台(6)精细调节被测望远镜系统(10)的俯仰、倾斜、方位和高低使得哈特曼波前测量仪(4)测得射入光束的俯仰、倾斜为零,并且该光束在哈特曼波前测量仪(4)感光面中心;3.3)通过数据处理上位机(5)设置哈特曼波前测量仪(4)曝光时间使哈特曼波前测量仪感光面上的光强为探测器饱和光强95%~99%之间的范围,设置采样20次后求取平均值,测得加入被测望远镜系统(10),并在其外视场为θ条件下测量系统的波前,记为W;θ3.4)由数据处理上位机(5)根据下式计算被测望远镜系统(10)外视场的波前W;Field_θ