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芯片与芯片测试系统
摘要文本
本公开提供一种芯片和芯片测试系统。芯片具有解码模块和测试模式控制模块，在对输入信号进行解码后判断该输入信号为预激活信号则响应后续测试信号，否则不响应后续测试信号。本公开提供的芯片和芯片测试方法通过设置预激活信号可以在尽量节省I/O接口的条件下使测试设备一次性连接更多芯片，并能够实现对每个芯片的单独测试。
申请人信息
- 申请人:长鑫存储技术有限公司
- 申请人地址:230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
- 发明人: 长鑫存储技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 芯片与芯片测试系统 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811137174.7 |
| 申请日 | 2018/9/28 |
| 公告号 | CN109164374B |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 长鑫存储技术有限公司 |
| 发明人 | 请求不公布姓名 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室 |
专利主权项内容
1.一种芯片，通过实体信号线和数据信号线耦接于测试设备，其特征在于，包括：解码模块，耦接于所述实体信号线，用于对来自所述实体信号线上的第一输入信号进行解码并输出测试模式信号或测试指令信号，所述测试模式信号先于所述测试指令信号出现；测试模式控制模块，耦接于所述解码模块和所述数据信号线，用于根据所述测试模式信号和所述数据信号线上的第二输入信号设置测试模式；测试指令执行模块，耦接于所述解码模块、所述测试模式控制模块和所述数据信号线，用于根据所述测试模式响应所述测试指令信号或在所述测试模式被设置为无时不响应所述测试指令信号。