一种芯片测试夹具
摘要文本
本发明公开一种芯片测试夹具，包括测试座，所述测试座的上表面固定安装有两组固定板，且固定板的前表面和后表面均设置有测试探针，所述测试座的上表面内侧嵌入安装有接触针，所述测试座的下表面固定安装有两组支撑脚，贯穿所述测试座的上表面设置有信号线，所述测试座的下表面与接触针的下端对应位置设置有保险丝；本发明通过在测试针套内设置复位弹簧对测试探针进行固定，在对芯片测试时能够提高测试夹具的测试稳定性和可靠性，并且避免了芯片在测试过程中脱落问题，且可以针对不同厚度的IC芯片进行测试，可以测不同尺寸的芯片，设置多个测试工位，能够满足多个单体芯片的单测，且能够满足不同温度下的芯片测试条件。
申请人信息
- 申请人:富芯微电子有限公司
- 申请人地址:230031 安徽省合肥市高新区柏堰科技园香蒲路503号
- 发明人: 富芯微电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种芯片测试夹具 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811572142.X |
| 申请日 | 2018/12/21 |
| 公告号 | CN109580999B |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01R1/04 |
| 权利人 | 富芯微电子有限公司 |
| 发明人 | 沈春福; 吴飞; 张荣; 周体志; 邹有彪 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区柏堰科技园香蒲路503号 |
专利主权项内容
1.一种芯片测试夹具，其特征在于，包括测试座(1)，所述测试座(1)的上表面固定安装有两组固定板(2)，且固定板(2)的前表面和后表面均设置有测试探针(3)，所述测试座(1)的上表面内侧嵌入安装有接触针(4)，所述测试座(1)的下表面固定安装有两组支撑脚(5)，贯穿所述测试座(1)的上表面设置有信号线(6)；所述测试座(1)的下表面与接触针(4)的下端对应位置设置有保险丝(7)，所述测试探针(3)的上部外围安装有测试针套(8)，且测试针套(8)的内表面与测试探针(3)的外表面之间包裹有复位弹簧(9)；所述保险丝(7)的数量与测试探针(3)的数量一致，且所有的保险丝(7)之间相互并联至信号线(6)，所述测试探针(3)的表面涂覆有镀金涂层；所述信号线(6)包括有两根黑线和两根红线，两根黑线和两根红线的一端分别连接有一组保护二极管(10)，且两根黑线和两根红线的另一端均通过线夹固定；所述保护二极管(10)选用TSS或TVS；每组所述固定板(2)的前表面和后表面的测试探针(3)的数量各为十二组，且接触针(4)的数量与测试探针(3)的数量相同，所述测试探针(3)的下端与测试探针(3)上端位置上下对应，十二组所述测试探针(3)相互并联至信号线(6)。