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物料分析装置及其控制方法
摘要文本
本发明公开了一种物料分析装置及其控制方法,物料分析装置包括:支架、视镜装置、照射光源和多个滤光片,支架上设有用于承载待分选物料且保持待分选物料静止的载物台,视镜装置设于支架,用于获取载物台上的待分选物料的光学信息,照射光源设在载物台的上方或/和下方,用于为载物台上的待分选物料提供光源,多个滤光片可选择性的任一个与视镜装置可拆卸地安装。待分选物料静止在载物台上,工作人员可以对待分选物料的同一个状态进行反复观察获取图像,进而可以为工作人员分析或分辨待分选物料提供方便,防止因待分选物料区别过小影响分选效果。而且工作人员根据需要选择适当的滤光片,可以提升视镜装置获取图像的质量。
申请人信息
- 申请人:合肥美亚光电技术股份有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新技术产业开发区望江西路668号
- 发明人: 合肥美亚光电技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 物料分析装置及其控制方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201810431265.5 |
| 申请日 | 2018/5/8 |
| 公告号 | CN108405375B |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | B07C5/342 |
| 权利人 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 |
| 发明人 | 朱治祥; 常宏; 井长龙; 徐家欢; 金鹏; 童声群; 刘松 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新技术产业开发区望江西路668号 |
专利主权项内容
1.一种物料分析装置,其特征在于,包括:支架,所述支架上设有用于承载待分选物料且保持所述待分选物料静止的载物台;视镜装置,所述视镜装置设于所述支架,用于获取所述载物台上的待分选物料的光学信息;照射光源,所述照射光源设在所述载物台的上方或/和下方,用于为所述载物台上的待分选物料提供光源;多个滤光片,多个所述滤光片可选择性的任一个与所述视镜装置可拆卸地安装;分别获取每个所述滤光片对应的物料图片,将多个所述物料图片合成RGB图像;通过仿真分析对比所述RGB图像并确定最优分选方案。