集成电路分析方法和装置

专利主权项内容

1.一种集成电路分析方法，其特征在于，所述方法包括：在显示有集成电路的电路图的情况下，响应于用户对第一实例的第一输入，将所述第一实例创建为第一组块；其中，所述第一组块包括平面组块和打包组块，所述第一组块具有标题信息、边界信息和组块标识；所述集成电路的电路图中包括至少一个实例，所述至少一个实例包括所述第一实例；所述平面组块与所述打包组块之间相互转换，在所述第一组块为所述打包组块的情况下，所述第一组块与宏单元之间相互转换；在所述将所述第一实例创建为第一组块之后，所述方法还包括：响应于用户对所述第一组块的第三输入，分别创建第二组块和第三组块；其中，所述第一组块、所述第二组块和所述第三组块形成树状结构，所述第一组块在所述树状结构中位于第i层级，所述第二组块在所述树状结构中位于所述第一组块的上一层级，所述第三组块在所述树状结构中位于所述第一组块的下一层级；响应于用户对第二实例的第二输入，将所述第二实例添加至所述第一组块中，其中，所述第二实例为在所述第一组块之外的任一实例。