航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置
摘要文本
本发明涉及航天移动测控技术领域,特别涉及一种航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置,其中方法包括:获取读数器所接收到的条纹图像;对第一行的像元传感数据进行电子细分,得到线阵图像;选取包含多个完整条纹的连续线阵片段,确定对应的电子细分数据数;估算单条纹所占电子细分数据数理论值;根据估算理论值和连续线阵片段对应的电子细分数据数,计算实际完整条纹数;根据实际完整条纹数和连续线阵片段对应的电子细分数据数,精确计算单条纹所占电子细分数据数;基于单条纹所占电子细分数据数及理论值,判断读数器是否安装到位。本发明能够快速确定光电编码器读数器是否安装到位,并指导调节读数器位置。
申请人信息
- 申请人:北京控制工程研究所
- 申请人地址:100080 北京市海淀区中关村南三街16号
- 发明人: 北京控制工程研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311344162.2 |
| 申请日 | 2023/10/17 |
| 公告号 | CN117408271A |
| 公开日 | 2024/1/16 |
| IPC主分类号 | G06K7/10 |
| 权利人 | 北京控制工程研究所 |
| 发明人 | 盖芳钦; 梁士通; 王立; 史永敏; 左富昌; 孙秀清; 张俊; 张朋; 尹路; 祝浩 |
| 地址 | 北京市海淀区中关村南三街16号 |
专利主权项内容
1.一种航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法,其特征在于,包括:获取已安装光电编码器的读数器所接收到的条纹图像;所述条纹图像由所述读数器采集码盘上的竖向编码条纹得到,包括至少一行像元传感数据;所述码盘上的竖向编码条纹沿横向排布,横向方向上条纹间的间隔是条纹宽度的整数倍;对所述条纹图像中第一行的像元传感数据进行电子细分至所需精度,得到线阵图像;从所述线阵图像中选取一段包含多个完整条纹的连续线阵片段,并确定所述连续线阵片段所对应的电子细分数据数;所述连续线阵片段至少包括10个完整条纹;根据所述条纹图像中单条纹所占像元数及电子细分倍数,估算单条纹所占电子细分数据数理论值;根据估算的单条纹所占电子细分数据数理论值和所述连续线阵片段所对应的电子细分数据数,计算所述连续线阵片段对应的实际完整条纹数;根据计算的实际完整条纹数和所述连续线阵片段所对应的电子细分数据数,精确计算单条纹所占电子细分数据数;基于精确计算的单条纹所占电子细分数据数及估算的单条纹所占电子细分数据数理论值,判断所述读数器是否安装到位,是则上报安装到位,否则上报安装不到位并指示调整方案。