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一种集成电路开路检测电路
摘要文本
本实用新型公开了一种集成电路开路检测电路，连接于待检测芯片，所述集成电路开路检测电路包括电源模块、电阻模块和用于判断所述待检测芯片的待测引脚是否接通的判断模块；电源模块连接于待检测芯片的接地引脚，并与待检测芯片的ESD模块接通；判断模块的输入端连接于待检测芯片的待测引脚、并与待检测芯片的ESD模块接通；电阻模块包括用于与待检测芯片的待测引脚一对一连接的多个下拉电阻，每个下拉电阻的一端连接于待测引脚和判断模块的输入端、另一端接地。本实用新型技术方案通过对接地引脚加正电源电压，再测量待检测芯片的待测引脚电压的方式，大大提升了检测速度；同时正电源电压的检测结果和其它功能的测试电路能够更好的融合。。更多数据：www.macrodatas.cn
申请人信息
- 申请人:成都锐成芯微科技股份有限公司
- 申请人地址:610041 四川省成都市高新区天府五街200号3号楼A区9楼
- 发明人: 成都锐成芯微科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种集成电路开路检测电路 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202323174860.0 |
| 申请日 | 2023/11/24 |
| 公告号 | CN220340377U |
| 公开日 | 2024/1/12 |
| IPC主分类号 | G01R31/54 |
| 权利人 | 成都锐成芯微科技股份有限公司 |
| 发明人 | 姜军 |
| 地址 | 四川省成都市高新区天府五街200号3号楼A区9楼 |
专利主权项内容
1.一种集成电路开路检测电路，连接于待检测芯片，其特征在于，所述集成电路开路检测电路包括电源模块、电阻模块和用于判断所述待检测芯片的待测引脚是否接通的判断模块；所述电源模块连接于所述待检测芯片的接地引脚，并与所述待检测芯片中的ESD模块接通；所述判断模块的输入端连接于所述待检测芯片的待测引脚、并与所述待检测芯片中的ESD模块接通；所述电阻模块包括用于与所述待检测芯片的待测引脚一对一连接的多个下拉电阻，每个所述下拉电阻的一端连接于所述待测引脚和所述判断模块的输入端、另一端接地；所述电源模块通过所述接地引脚为所述待检测芯片提供正电源电压，该正电源电压经所述待检测芯片的ESD模块后，通过所述待测引脚输出电压至所述判断模块，所述判断模块输出检测结果。