一种集成电路功耗测试系统

专利主权项内容

1.一种集成电路功耗测试系统，其特征在于，包括：数据收集模块，对时间范围T内集成电路中各个电子器件的历史功耗测试数据进行获取，并将其发送至数据分析模块；时间范围T指代为从获取数据的当下起算往前推160天这一时间段，获取数据的当下不计算在内，即T＝160；数据分析模块，用于对时间范围T内集成电路中各个电子器件的历史功耗测试数据进行分析，进而获得集成电路中各个电子器件分别对应的功耗区间，并经其发送至数据监测模块；数据监测模块，用于实时对集成电路中各个电子器件的功耗进行获取并进行对比分析，根据对比分析结果对各个电子器件中的故障器件进行标记，并将其发送至维修方案输出用模块；维修方案包生成模块，用于对各个电子器件对应的多个维修方案的历史维修记录进行去量化分析计算，根据分析结果获得各个电子器件的各个维修方案分别对应的应急值，根据各个维修方案分别对应的应急值生成各个电子器件分别对应的维修方案包，并将其传输至应急维修方案判定模块；应急维修方案判定模块，用于对各个电子器件分别对应的维修方案包进行接收，并对其进行分析，进而对各个电子器件分别对应急维修方案进行标记，同时将其发送至维修方案输出用模块；维修方案输出用模块，用于对各个电子器件和其对应的应急维修方案进行获取，同时对故障器件进行获取，然后根据接收到故障器件类型时，对与之对应的应急维修方案进行输出至显示终端。